Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=543.422.8<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
543.422.8
A22


   
    Advanced X-ray crystallography [Electronic resource] : сборник / ed. K. Rissanen. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Topics in current chemistry, ISSN 0340-1022 ; vol. 315). - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-27407-7 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская кристаллография

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Rissanen, K. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
2.
543.426
V45


    Verma, H. R.
    Atomic and nuclear analytical methods [Electronic resource] : XRF, Mossbauer, XPS, NAA and B63Ion-beam spectroscopic techniques / H. R. Verma. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - ISBN 978-3-540-30279-7 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
атомные аналитические методы -- ядерные аналитические методы -- рентгеновская флуоресцентная спектроскопия -- мессбауэровская спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- нейтронный активационный анализ -- спектроскопия при помощи ионных пучков

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
539.186.24
E43


   
    Electron scattering [Electronic resource] : from atoms, molecules, nuclei, and bulk matter / ed. C. T. Whelan, N. J. Mason. - Electronic text data. - Boston, Ma : Kluwer acad. publ., 2005. - (Physics of atoms and molecules). - ISBN 978-0-387-27567-3 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
электроны -- рассеяние -- атомы -- молекулы -- ядра -- крупные объекты

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Whelan, C.T. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
537.533.35
E19


    Echlin, P.
    Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource] / P. Echlin. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - ISBN 978-0-387-85731-2 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- сканирующая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)