Поисковый запрос: (<.>U=537.533.35<.>) |
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
| 537.533.35
K48
Kirkland, E. J.
Advanced computing in electron microscopy [Electronic resource] / E. J. Kirkland. - 2nd ed. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-1-4419-6533-2 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- компьютерное моделирование -- формирование электронного изображения
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
2.
| 537.533.35
A67
Applied scanning probe methods II [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-27453-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
3.
| 537.533.35
A67
Applied scanning probe methods III [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26910-6 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
4.
| 537.533.35
A67
Applied scanning probe methods IV [Electronic resource] : industrial applications / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26914-4 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- промышленное применение
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
5.
| 537.533.35
A67
Applied scanning probe methods V [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / ed. B. Bhushan [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37316-2 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
6.
| 537.533.35
A67
Applied scanning probe methods VI [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, S. Kawata. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37318-6 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
7.
| 537.533.35
B55
Bhushan, B.
Applied scanning probe methods VII [Electronic resource] : biomimetics and industrial applications / B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37320-9 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- бионика -- промышленное применение
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
8.
| 537.533.35
B55
Bhushan, B.
Applied scanning probe methods viii [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-74080-3 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
прикладные сканирующие зондовые методы -- сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Tomitori, M.; Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
9.
| 537.533.35
E19
Echlin, P.
Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource] / P. Echlin. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - ISBN 978-0-387-85731-2 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- сканирующая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
10.
| 537.533.35
M78
Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource] : сборник / ed. T. Vogt [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744). - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2191-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- наноразмерное формирование изображения -- моделирование
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Vogt, T. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
|
11.
| 537.533.35
M81
Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy [Electronic resource] : route to femtosecond Angstrom technology / ed. M. Yamashita [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - (Springer series in optical sciences, ISSN 0342-4111 ; 99). - ISBN 978-3-540-27140-6 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия туннельная
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Yamashita, M. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
12.
| 537.533.35
S54
Shimizu, K.
New horizons of applied scanning electron microscopy [Electronic resource] / K. Shimizu, T. Mitani. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, 2010. - (Springer series in surface sciences, ISSN 0931-5195 ; 45). - ISBN 978-3-642-03160-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
прикладная сканирующая электронная микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Mitani, T.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
13.
| 537.533.35
E28
Egerton, R. F.
Physical principles of electron microscopy [Electronic resource] : an introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005. - ISBN 978-0-387-26016-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
14.
| 537.533.35
R66
Roadmap of scanning probe microscopy [Electronic resource] / ed. S. Morita. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-34315-8 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Morita, S. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
15.
| 537.533.35
S30
Scanning microscopy for nanotechnology [Electronic resource] : techniques and applications / eds. W. Zhou, Z. L. Wang. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007. - ISBN 0-387-33325-8 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- электронная микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Zhou, W. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
16.
| 537.533.35
F79
Foster, A.
Scanning probe microscopy [Electronic resource] : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-0-387-37231-0 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Hofer, W.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
17.
| 537.533.35
S30
Scanning probe microscopy [Electronic resource] : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / eds. S. Kalinin, A. Gruverman. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007. - ISBN 978-0-387-28668-6 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Kalinin, S. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
18.
| 537.533.35
S30
Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology [Electronic resource] / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-642-03535-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- нанонаука -- нанотехнология
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
19.
| 537.533.35
S30
Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 3 [Electronic resource] : vol. 3 / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-25414-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- применение -- нанонауки -- нанотехнологии
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
|
20.
| 537.533.35
K69
Kohl, H.
Transmission electron microscopy [Electronic resource] : physics of image formation / H. Kohl, L. Reimer. - 5th ed. - Electronic text data. - New York, NY : Springer, 2008. - (Springer series in optical sciences, ISSN 0342-4111 ; 36). - ISBN 978-0-387-34758-5 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая электронная микроскопия -- изображение -- формирование -- физика
См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Reimer, L.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных