Web ИРБИС

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Российский сводный каталог по научно-технической литературе

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)

Общее количество найденных документов : 36
Показаны документы с 1 по 30

1-30 31-36

620.186
A18

Acoustic scanning probe microscopy [Electronic resource] : сборник / ed. F. Marinello [et al.]. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-27494-7 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.186

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия акустическая

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Marinello, F. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие

537.533.35
K48

Kirkland, E. J.
Advanced computing in electron microscopy [Electronic resource] / E. J. Kirkland. - 2nd ed. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-1-4419-6533-2 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- компьютерное моделирование -- формирование электронного изображения

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

537.533.35
A67

Applied scanning probe methods II [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-27453-7 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

537.533.35
A67

Applied scanning probe methods III [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26910-6 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

537.533.35
A67

Applied scanning probe methods IV [Electronic resource] : industrial applications / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26914-4 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- промышленное применение

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

537.533.35-049.9
T72

Tomitori, M.
Applied scanning probe methods ix [Electronic resource] : characterization / M. Tomitori, H. Fuchs, B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-74083-4 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35-049.9

Кл.слова (ненормированные):
прикладные сканирующие зондовые методы -- исследование

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Fuchs, H.; Bhushan, B.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

537.533.35
A67

Applied scanning probe methods V [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / ed. B. Bhushan [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37316-2 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

537.533.35
A67

Applied scanning probe methods VI [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, S. Kawata. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37318-6 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

537.533.35
B55

Bhushan, B.
Applied scanning probe methods VII [Electronic resource] : biomimetics and industrial applications / B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37320-9 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	34.53
УДК	537.533.35	007:57

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- бионика -- промышленное применение

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.

537.533.35
B55

Bhushan, B.
Applied scanning probe methods viii [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-74080-3 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
прикладные сканирующие зондовые методы -- сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Tomitori, M.; Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

11.

537.533.35-049.9
B55

Bhushan, B.
Applied scanning probe methods x [Electronic resource] : biomimetics and industrial applications / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-74085-8 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	34.53
УДК	537.533.35-049.9	007:57

Кл.слова (ненормированные):
прикладные сканирующие зондовые методы -- биомиметика -- промышленное применение

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Tomitori, M.; Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

12.

620.186
A90

Atom probe microscopy [Электронный ресурс] : монография / B. Gault [и др.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in materials science , ISSN 0933-033X ; vol. 160). - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3436-8 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	620.186

Кл.слова (ненормированные):
атомная зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Gault, B.; Moody, M. P.; Cairney, J. M.; Ringer, S. P.
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие

13.

537.533.35(063)
E43

Electron microscopy XIV [Electronic resource] : proc. of the 14th intern. conf. on electron microscopy (EM2011), held in Wisla, Poland, from 26 to 30 Jun. 2011 / International conference on electron microscopy (14; 2011; Wisla) ; ed.: D. Stroz, K. Prusik. - Electronic text data. - Durnten-Zurich : Trans tech publ., 2012. - on-line. - (Solid state phenomena, ISSN 1662-9779 ; vol. 186). - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-03813-699-6 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35(063)

Кл.слова (ненормированные):
элекронная микроскопия -- конференции

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Stroz, D. \ed.\; International conference on electron microscopy (14 ; 2011 ; Wisla)
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие

14.

537.533.35(03)
H22

Handbook of microscopy for nanotechnology [Electronic resource] / ed. N. Yao, Z. L. Wang. - Electronic text data. - Boston, Ma : Kluwer acad. publ., 2005. - ISBN 978-1-4020-8006-7 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	81.13.30
УДК	537.533.35(03)	620.3(03)

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- нанотехнологии -- справочники

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Yao, N. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

15.

537.533.35
E19

Echlin, P.
Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource] / P. Echlin. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - ISBN 978-0-387-85731-2 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	31.19
УДК	537.533.35	543.422.8

Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- сканирующая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

16.

Tishko, T.
Holographic microscopy of phase microscopic objects [Electronic resource] : theory and practice / T. Tishko, D. Tishko, V. Titar. - Electronic text data. - Singapore [etc.] : World sci., 2011. - on-line. - Загл. с экрана. - ISBN 978-981-4289-55-9 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	681.723:778.38

Кл.слова (ненормированные):
голографическая микроскопия -- микроскопические объекты -- голограммы -- запись

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Tishko, D.; Titar, V.
Экземпляры всего 1: ИнТех (1)
Свободны: ИнТех (1)
Найти похожие

17.

()

Imaging & Microscopy [Электронный ресурс]. - Darmstadt : GIT-Verlag GmbH, 1999 - . - n. - Выходит ежеквартально. - ISSN 1439-4243

Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии, микроскопия
Аннотация: Основная цель - презентация новой промышленной продукции и услуг, связанных с проблемами формирования изображений и микроскопии. В качестве информационной поддержки для принятия решений как пользователей, так и изготовителей и исследователей, публикуются обзоры и научные и технические отчеты, отражающие вопросы применения продукции и технологий, по разделам: анализ состава вещества; электронная микроскопия; обработка изображений, в т.ч. технология работы камеры и разработки программных средств; оптическая микроскопия; сканирующая зондовая микроскопия. Имеются также постоянные разделы: научные новости, новости продукции, новости компаний, календарь событий; реклама.
journal link (full text - НТО-3)
Найти похожие

18.

()

Journal of Microscopy [Электронный ресурс]. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc, 1841 - . - n. - Выходит ежемесячно. - ISSN 0022-2720

Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии, микроскопия
Аннотация: Статьи, обзоры, краткие сообщения, быстрые публикации, письма в редакцию по всем аспектам микроскопии и анализа: процедуры подготовки образцов для исследования, микроскопические методы, микроскопия и нанотехнологии, наномикроскопия, применение в физике, химии, материаловедении и биологических науках. Журнал для ученых и технологов, использующих все виды микроскопии, спектроскопию с пространственным разрешением, композиционное картирование и анализ изображений.
journal link (full text - из читальных залов ГПНТБ)
Найти похожие

19.

620.186

Magnetic resonance microscopy: Spatially resolved NMR techniques and applications [Electronic resource] : сборник / ed.: S. L. Codd, J. D. Seymour. - Electronic text data. - Weinheim : Wiley-VCH Verl., 2009. - on-line. - Загл. с титул. экрана. - ISBN 978-3-527-62605-2 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	29.19.49
УДК	620.186	539.143.43

См. : Текст издания
Доп.точки доступа:
Codd, S. L. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие

20.

()

Microscopy Research and Technique [Электронный ресурс]. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc, 1984 - . - n. - Выходит ежемесячно. - ISSN 1059-910X

Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии, микроскопия
Аннотация: Статьи по всесторонним исследованиям современной микроскопии в материаловедении, химических, биологических и клинических науках: электронная микроскопия (просвечивающая, сканирующая, аналитическая - рентгеновская, спектрометрия энергетических потерь электронов, Оже и др.); светолучевая микроскопия (конфокальная, флуоресцентная, видеомикроскопия, комбинация с рамановской спектроскопией, инфракрасная спектроскопия с Фурье-преобразованием и др.); сканирующая зондовая микроскопия (атомно-силовая, сканирующая туннельная и др.); отображение микромагнитного резонанса, получение микроакустического изображения, а также анализ изображений, количественная морфология и все другие формы получения микроскопических изображений и их анализ.
journal link (full text - из читальных залов ГПНТБ)
Найти похожие

21.

537.533.35
M78

Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource] : сборник / ed. T. Vogt [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744). - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2191-7 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- наноразмерное формирование изображения -- моделирование

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Vogt, T. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие

22.

537.533.35
M81

Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy [Electronic resource] : route to femtosecond Angstrom technology / ed. M. Yamashita [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - (Springer series in optical sciences, ISSN 0342-4111 ; 99). - ISBN 978-3-540-27140-6 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия туннельная

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Yamashita, M. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

23.

537.533.35
S54

Shimizu, K.
New horizons of applied scanning electron microscopy [Electronic resource] / K. Shimizu, T. Mitani. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, 2010. - (Springer series in surface sciences, ISSN 0931-5195 ; 45). - ISBN 978-3-642-03160-1 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
прикладная сканирующая электронная микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Mitani, T.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

24.

537.533.35
E28

Egerton, R. F.
Physical principles of electron microscopy [Electronic resource] : an introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005. - ISBN 978-0-387-26016-7 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

25.

537.533.35
R66

Roadmap of scanning probe microscopy [Electronic resource] / ed. S. Morita. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-34315-8 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Morita, S. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

26.

537.533.35/S19-879103

Sample preparation handbook for transmission electron microscopy [Electronic resource] : methodology / J. Ayache [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-0-387-98182-6 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35(03)

Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- образцы -- подготовка -- справочное руководство

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Ayache, J.; Beaunier, L.; Boumendil, J.; Ehret, G.; Laub, D.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

27.

537.533.35/S19-032813

Sample preparation handbook for transmission electron microscopy [Electronic resource] : techniques / J. Ayache [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-1-4419-5975-1 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35(03)

Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- просвечивающая электронная микроскопия -- справочное руководство

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Ayache, J.; Beaunier, L.; Boumendil, J.; Ehret, G.; Laub, D.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

28.

Шифр: W8316 ()

Scanning [Электронный ресурс]. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc, 1978 - . - Выходит раз в два месяца. - ISSN 0161-0457

Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- сканирующие зондовые микроскопы -- конфокальная оптическая микроскопия -- электронная оптика -- взаимодействия электрон-твёрдое тело -- фокусированный ионный пучок -- обработка изображений -- моделирование монте карло -- мультифотонная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия
Аннотация: 20131111
journal link (full text - из читальных залов ГПНТБ)
Найти похожие

29.

537.533.35
S30

Scanning microscopy for nanotechnology [Electronic resource] : techniques and applications / eds. W. Zhou, Z. L. Wang. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007. - ISBN 0-387-33325-8 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43	81.13.30
УДК	537.533.35	620.3

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- электронная микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Zhou, W. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

30.

537.533.35
F79

Foster, A.
Scanning probe microscopy [Electronic resource] : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-0-387-37231-0 : Б. ц.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Hofer, W.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

1-30 31-36

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)