Поисковый запрос: (<.>R=29.19.19$<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 12 |
>1.
| > Шифр: W8872 () Acta Crystallographica [Электронный ресурс]. Section C, Crystal Structure Communications. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc, 1983 - . - Выходит ежемесячно. - ISSN 0108-2701 Кл.слова (ненормированные): структуры кристаллов -- жидкие кристаллы -- ионные жидкости -- молекулярные кристаллы -- порошковая дифракция -- молекулярное распознавание -- наноструктуры -- органические полимеры -- природные кристаллы -- полиморфы Аннотация: 20131108
Издание можно найти в: ХР; journal link (full text - из читальных залов ГПНТБ) Найти похожие
|
>2.
| 543.422.8 A22
Advanced X-ray crystallography [Electronic resource] : сборник / ed. K. Rissanen. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Topics in current chemistry, ISSN 0340-1022 ; vol. 315). - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-27407-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): рентгеновская кристаллография
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Rissanen, K. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
|
>3.
| 548.735 C47
Characterisation of areal surface texture [Electronic resource] : монография / ed. R. Leach. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-36458-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): поверхности -- текстура -- характеристика
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Leach, R. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
|
>4.
| 548.74(063) E43
Electron crystallography [Electronic resource] : novel approaches for structure determination of nanosized materials / ed. T. E. Weirich [et al.]. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2006. - (NATO science series. Ser. II, Mathematics, physics and chemistry, ISSN 1568-2609 ; 211). - ISBN 978-1-4020-3920-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): электронография -- наноструктурные материалы -- конференции
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Weirich, T.E. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>5.
| 539.25/E43-374344
Electron scattering in solid matter [Electronic resource] : a theoretical and computational treatise / ed. J. Zabloudil [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - (Springer series in solid-state sciences, ISSN 0171-1873 ; 147). - ISBN 978-3-540-22212-5 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): твердые тела -- методы исследования -- электронография
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Zabloudil, J. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>6.
| 548.73 M78
Moderne Rontgenbeugung [Electronic resource] : Rontgendiffraktometrie fur Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker / L. Spiess [et al.]. - 2., uberarbeitete und erweiterte Aufl. - Electronic text data. - Wiesbaden : Vieweg+Teubner, 2009. - ISBN 978-3-8349-9434-9 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): рентгеновское излучение -- дифракция -- рентгеновская дифрактометрия
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Spiess, L.; Teichert, G.; Behnken, H.; Genzel, C.; Schwarzer, R.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>7.
| 548.74 B58
Bilheux, H. Neutron imaging and applications [Electronic resource] : a reference for the imaging community / H. Bilheux, I. Anderson, R. McGreevy. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - (Neutron scattering applications and techniques, ISSN 1868-0372). - ISBN 9780387786933 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): нейтронография -- нейтроны -- рассеяние -- применение
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Anderson, I.; McGreevy, R.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>8.
| 548.7 W69
Will, G. Powder diffraction [Electronic resource] : the Rietveld method and the two stage method to determine and refine crystal ctructures from powder diffraction data / G. Will. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - ISBN 978-3-540-27986-0 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): порошковая дифракция -- метод Ритвельда -- двухэтапный метод -- кристаллические структуры -- определение -- уточнение
См. : Текст издания Доп.точки доступа: SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>9.
| 548.73 L13
Ladd, M. Structure determination by x-ray crystallography. Analysis by x-rays and neutrons [Electronic resource] : монография / M. Ladd, R. Palmer. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3954-7 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): структура -- определение -- ренгтеновская кристаллография -- нейтронография
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Palmer, R.
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
|
>10.
| 547.03:548.7(076.1) R37
Reichenbacher, M. Strukturanalytik organischer und anorganischer Verbindungen [Electronic resource] : ein Ubungsbuch / M. Reichenbacher, J. Popp. - Electronic text data. - Wiesbaden : Teubner, 2007. - ISBN 978-3-8351-9204-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): органические соединения -- неорганические соединения -- структурная аналитика -- сборник упражнений
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Popp, J.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>11.
| 539.171.4 S90
Studying kinetics with neutrons [Electronic resource] : prospects for time-resolved neutron scattering / ed. G. Eckold [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010. - (Springer series in solid-state sciences, ISSN 0171-1873 ; 161). - ISBN 978-3-642-03309-4 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): кинетика -- нейтроны -- рассеяние
См. : Текст издания Доп.точки доступа: Eckold, G. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
|
>12.
|
Fewster , P. F. X-Ray scattering from semiconductors and other materials [Electronic resource] / P.F. Fewster . - 3rd ed. - Electronic text data. - Singapore [etc.] : World sci., 2015. - on-line. - Загл. с экрана. - ISBN 978-981-4436-93-9 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- материалы -- рентгеновские лучи -- рассеяние
См. : Текст издания
Экземпляры всего 1: ИнТех (1)
Свободны: ИнТех (1)
Найти похожие
|
|
|