Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.533.35(03)<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
537.533.35(03)
H22


   
    Handbook of microscopy for nanotechnology [Electronic resource] / ed. N. Yao, Z. L. Wang. - Electronic text data. - Boston, Ma : Kluwer acad. publ., 2005. - ISBN 978-1-4020-8006-7 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- нанотехнологии -- справочники

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Yao, N. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
537.533.35/S19-879103

   
    Sample preparation handbook for transmission electron microscopy [Electronic resource] : methodology / J. Ayache [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-0-387-98182-6 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- образцы -- подготовка -- справочное руководство

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Ayache, J.; Beaunier, L.; Boumendil, J.; Ehret, G.; Laub, D.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
537.533.35/S19-032813

   
    Sample preparation handbook for transmission electron microscopy [Electronic resource] : techniques / J. Ayache [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-1-4419-5975-1 : Б. ц.

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- просвечивающая электронная микроскопия -- справочное руководство

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Ayache, J.; Beaunier, L.; Boumendil, J.; Ehret, G.; Laub, D.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)