Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.533.35<.>)
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-20 
1.
537.533.35
K48

    Kirkland, E. J.
    Advanced computing in electron microscopy [Electronic resource] / E. J. Kirkland. - 2nd ed. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - ISBN 978-1-4419-6533-2 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- компьютерное моделирование -- формирование электронного изображения

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
537.533.35
A67

   
    Applied scanning probe methods II [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-27453-7 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
537.533.35
A67

   
    Applied scanning probe methods III [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26910-6 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
537.533.35
A67

   
    Applied scanning probe methods IV [Electronic resource] : industrial applications / eds. B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-26914-4 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- промышленное применение

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
5.
537.533.35
A67

   
    Applied scanning probe methods V [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / ed. B. Bhushan [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37316-2 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
6.
537.533.35
A67

   
    Applied scanning probe methods VI [Electronic resource] : characterization / eds. B. Bhushan, S. Kawata. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37318-6 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Bhushan, B. \ed.\; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
7.
537.533.35
B55

    Bhushan, B.
    Applied scanning probe methods VII [Electronic resource] : biomimetics and industrial applications / B. Bhushan, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-37320-9 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
34.53
УДК
537.533.35
007:57

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- бионика -- промышленное применение

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
8.
537.533.35
B55

    Bhushan, B.
    Applied scanning probe methods viii [Electronic resource] : scanning probe microscopy techniques / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - ISBN 978-3-540-74080-3 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
прикладные сканирующие зондовые методы -- сканирующая зондовая микроскопия

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Tomitori, M.; Fuchs, H.; SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
9.
537.533.35
E19

    Echlin, P.
    Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource] / P. Echlin. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - ISBN 978-0-387-85731-2 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
31.19
УДК
537.533.35
543.422.8

Кл.слова (ненормированные):
образцы -- подготовка -- сканирующая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
SpringerLink (Online service)
Свободных экз. нет
Найти похожие
10.
537.533.35
M78

   
    Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource] : сборник / ed. T. Vogt [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744). - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2191-7 : Б. ц.

ГРНТИ
29.35.43
УДК
537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- наноразмерное формирование изображения -- моделирование

См. : Текст издания

Доп.точки доступа:
Vogt, T. \ed.\
Экземпляры всего 1: нто3 (1)
Свободны: нто3 (1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-20 
 
Описание базы данных
Стандартный
Расширенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)