Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=543.422.8<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 543.422.8/A22
Заглавие : Advanced X-ray crystallography [Electronic resource] : сборник
Выходные данные : Berlin [etc.]: Springer, 2012
Колич.характеристики : on-line
Серия: Topics in current chemistry, ISSN 0340-1022; Vol. 315
Вид и объем ресурса: Electronic text data
Примечания : Загл. с экрана
ISBN, Цена 978-3-642-27407-7: Б.ц.
ГРНТИ : 31.19 + 29.19.19
УДК : 543.422.8 + 548.73
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская кристаллография
Экземпляры :нто3(1)
Свободны : нто3(1)
Найти похожие
2.
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 543.426/V45
Автор(ы) : Verma H.R.
Заглавие : Atomic and nuclear analytical methods [Electronic resource] : XRF, Mossbauer, XPS, NAA and B63Ion-beam spectroscopic techniques
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007
Коллективы : SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-30279-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.15.35 + 31.19.03
УДК : 543.426 + 539.122.164 + 543.422.8 + 543.53 + 543.51
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомные аналитические методы--ядерные аналитические методы--рентгеновская флуоресцентная спектроскопия--мессбауэровская спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--нейтронный активационный анализ--спектроскопия при помощи ионных пучков
Найти похожие
3.
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.186.24/E43
Заглавие : Electron scattering [Electronic resource] : from atoms, molecules, nuclei, and bulk matter
Выходные данные : Boston, Ma : Kluwer acad. publ., 2005
Коллективы : SpringerLink (Online service)
Серия: Physics of atoms and molecules
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-27567-3: Б.ц.
ГРНТИ : 29.29 + 29.15.19 + 31.19.03
УДК : 539.186.24 + 539.196 + 539.171.2 + 543.422.8
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электроны--рассеяние--атомы--молекулы--ядра--крупные объекты
Найти похожие
4.
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/E19
Автор(ы) : Echlin P.
Заглавие : Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource]
Выходные данные : Boston, Ma: Springer, 2009
Коллективы : SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-85731-2: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
УДК : 537.533.35 + 543.422.8
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): образцы--подготовка--сканирующая электронная микроскопия--рентгеновский микроанализ
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)