Поисковый запрос: (<.>U=537.533.35<.>) |
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 20 |
1. 
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/K48
Автор(ы) : Kirkland E.J.
Заглавие : Advanced computing in electron microscopy [Electronic resource]
. -2nd ed.
Выходные данные : Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-1-4419-6533-2: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): просвечивающая электронная микроскопия--компьютерное моделирование--формирование электронного изображения
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/A67
Заглавие : Applied scanning probe methods II [Electronic resource]
: scanning probe microscopy techniques
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-27453-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/A67
Заглавие : Applied scanning probe methods III [Electronic resource]
: characterization
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-26910-6: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/A67
Заглавие : Applied scanning probe methods IV [Electronic resource]
: industrial applications
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-26914-4: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--промышленное применение
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/A67
Заглавие : Applied scanning probe methods V [Electronic resource]
: scanning probe microscopy techniques
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-37316-2: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/A67
Заглавие : Applied scanning probe methods VI [Electronic resource]
: characterization
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-37318-6: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/B55
Автор(ы) : Bhushan B., Fuchs H.
Заглавие : Applied scanning probe methods VII [Electronic resource]
: biomimetics and industrial applications
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-37320-9: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43 + 34.53
УДК : 537.533.35 + 007:57
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--бионика--промышленное применение
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/B55
Автор(ы) : Bhushan B., Tomitori M., Fuchs H.
Заглавие : Applied scanning probe methods viii [Electronic resource]
: scanning probe microscopy techniques
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-74080-3: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прикладные сканирующие зондовые методы--сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/E19
Автор(ы) : Echlin P.
Заглавие : Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [Electronic resource]
Выходные данные : Boston, Ma: Springer, 2009
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-85731-2: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43 + 31.19
УДК : 537.533.35 + 543.422.8
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): образцы--подготовка--сканирующая электронная микроскопия--рентгеновский микроанализ
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/M78
Заглавие : Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource]
: сборник
Выходные данные : New York, NY [etc.]: Springer, 2012
Колич.характеристики : on-line
Серия: Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744
Вид и объем ресурса: Electronic text data
Примечания : Загл. с экрана
ISBN, Цена 978-1-4614-2191-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--наноразмерное формирование изображения--моделирование
Экземпляры :нто3(1)
Свободны : нто3(1)
Найти похожие
|
11.
|
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : 537.533.35/M81
Заглавие : Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy [Electronic resource]
: route to femtosecond Angstrom technology
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: Springer series in optical sciences, ISSN 0342-4111; 99
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-27140-6: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия туннельная
Найти похожие
|
12.
|
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : 537.533.35/S54
Автор(ы) : Shimizu K., Mitani T.
Заглавие : New horizons of applied scanning electron microscopy [Electronic resource]
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer-Verlag, 2010
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: Springer series in surface sciences, ISSN 0931-5195; 45
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-642-03160-1: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прикладная сканирующая электронная микроскопия
Найти похожие
|
13.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/E28
Автор(ы) : Egerton R.F.
Заглавие : Physical principles of electron microscopy [Electronic resource]
: an introduction to TEM, SEM, and AEM
Выходные данные : Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-26016-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия
Найти похожие
|
14.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/R66
Заглавие : Roadmap of scanning probe microscopy [Electronic resource]
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-540-34315-8: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
15.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/S30
Заглавие : Scanning microscopy for nanotechnology [Electronic resource]
: techniques and applications
Выходные данные : New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 0-387-33325-8: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43 + 81.13.30
УДК : 537.533.35 + 620.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--электронная микроскопия
Найти похожие
|
16.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/F79
Автор(ы) : Foster A., Hofer W.
Заглавие : Scanning probe microscopy [Electronic resource]
: atomic scale engineering by forces and currents
Выходные данные : New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2006
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-37231-0: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
17.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/S30
Заглавие : Scanning probe microscopy [Electronic resource]
: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Выходные данные : New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2007
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-28668-6: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
|
18.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/S30
Заглавие : Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology [Electronic resource]
Выходные данные : Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-3-642-03535-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--нанонаука--нанотехнология
Найти похожие
|
19.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.35/S30
Заглавие : Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 3 [Electronic resource]
: vol. 3
Выходные данные : Berlin [etc.]: Springer, 2013
Колич.характеристики : on-line
Серия: NanoScience and technology, ISSN 1434-4904
Вид и объем ресурса: Electronic text data
Примечания : Загл. с экрана
ISBN, Цена 978-3-642-25414-7: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43 + 81.13.30
УДК : 537.533.35 + 620.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--применение--нанонауки--нанотехнологии
Экземпляры :нто3(1)
Свободны : нто3(1)
Найти похожие
|
20.
|
Вид документа : Монографическая серия
Шифр издания : 537.533.35/K69
Автор(ы) : Kohl H., Reimer L.
Заглавие : Transmission electron microscopy [Electronic resource]
: physics of image formation
. -5th ed.
Выходные данные : New York, NY : Springer, 2008
Коллективы :
SpringerLink (Online service)
Серия: Springer series in optical sciences, ISSN 0342-4111; 36
Вид и объем ресурса: Electronic text data
ISBN, Цена 978-0-387-34758-5: Б.ц.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 537.533.35
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая электронная микроскопия--изображение--формирование--физика
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных