Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Text] : учеб. пособие для студентов вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4.изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.357-358 (38 назв.). - ISBN 5-87623-096-0 : Б. ц.
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н. Свободных экз. нет |
Шеин, А. Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) [Text] : учеб. пособие / А. Б. Шеин. - Пермь : [s. n.], 2008. - 108 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 108 (4 назв.). - ISBN 978-5-7944-1174-4 : Б. ц. ; В надзаг.: Перм. гос. ун-т
Электронная микроскопия Электронная спектроскопия Свободных экз. нет |
Потапкин, О. Д. Просвечивающая электронная микроскопия наноструктур [Text] : учеб. пособие / О. Д. Потапкин, А. А. Мельников. - М. : МИРЭА, 2008. - 184 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 173-182 (21 назв.). - ISBN 978-5-7339-0726-0 : Б. ц. ; В надзаг.: Моск. гос. ин-т радиотехники, электроники и автоматики (техн. ун-т)
Доп.точки доступа: Мельников, А.А. Свободных экз. нет |
Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов [Text] : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.]. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008. - 89 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование") (Инновационная образовательная программа Санкт-Петербургского политехнического университета). - ^aБиблиогр.: с. 89 (11 назв.). - ISBN 978-5-7422-1986-6 : Б. ц. ; В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Андреева, В.Д.; Новиков, Е.В.; Боричева, И.К.; Спешилова, А.Б. Свободных экз. нет |
Рентгенография и электронная микроскопия материалов [Text] : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.]. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008. - 180 с. : ил. - (Приоритеный национальный проект "Образование"). - ^aБиблиогр.: с. 180 (10 назв.). - ISBN 978-5-7422-1994-1 : Б. ц. ; В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Андреева, В.Д.; Новиков, Е.В.; Боричева, И.К.; Спешилова, А.Б. Свободных экз. нет |
Арисова, В. Н. Методы исследования материалов и процессов [Text] : учеб. пособие / В. Н. Арисова, А. Ф. Трудов. - Волгоград : Политехник, 2009. - 98 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 97 (15 назв.). - ISBN 978-5-9948-0191-8 : Б. ц.
Свободных экз. нет |
Соколов, Вячеслав Николаевич. Перспективы и возможности современной электронной микроскопии при контроле материалов, применяемых в различных отраслях народного хозяйства [Text] / [В. Н. Соколов, Е. В. Орлова, Л. М. Лукьянова и др.]; Всесоюз. НТО радиотехники, электрон. и связи им. А. С. Попова, Центр. правл. - [S. l. : s. n.], 1989. - 51 с. : ил. - Б. ц. ; Авт. указаны на обороте тит. л.
Доп.точки доступа: Орлова, Е.В.; Лукьянова, Л.М. Свободных экз. нет |
Валиев, Руслан Зуфарович. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Text] / Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман; АН СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230,[1] с. : ил. - Б. ц. ; Библиогр.: с. 221-225 (115 назв.) Перевод заглавия: ^aCrystallogeometrical Analysis of Intercrystalline Interfaces in Electron Microscopy. Содержание: Перевод заглавия: ^aCrystallogeometrical Analysis of Intercrystalline Interfaces in Electron Microscopy.
<Электронная> <микроскопия> Доп.точки доступа: Вергазов, Анатолий Николаевич; Герцман, Валерий Юрьевич Свободных экз. нет |
Масловская, А. Г. Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами [Text] : монография / А. Г. Масловская, И. Б. Копылова. - Владивосток : Дальнаука, 2010. - 203 с. - ^aБиблиогр.: с. 180-200. - ISBN 978-5-8044-1069-9 : Б. ц.
Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Копылова, И.Б. Свободных экз. нет |
Котов, Дмитрий Анатольевич (кандидат технических наук). Методы контроля и анализа в технологии изготовления интегральных микросхем [Text] : учебно-методическое пособие для вузов / Д. А. Котов, А. Г. Черных. - Минск : БГУИР, 2010. - 47 с. - ^aБиблиогр.: с. 47 (10 назв.). - ISBN 978-985-488-499-8 : Б. ц.
ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ Доп.точки доступа: Черных, Александр Георгиевич (кандидат технических наук ; род. 1941) Свободных экз. нет |
^a22.37я73^2rubbk Исламгалиев, Ринат Кадыханович. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [Text] : [учеб. пособие по специальности 210602 "Нанотехнология", специальности 150702 "Физика металлов" направления 150700 "Физ. материаловедение"] / Р. К. Исламгалиев ; Федер. агентство по образованию, Уфим. гос. авиац. техн. ун-т. - Уфа : УГАТУ, 2008. - 111 с. : ил. ; 20 см. - (Приоритетные национальные проекты) (Образование). - ^aБиблиогр.: с. 106-111. - ISBN 978-5-86911-880-6 : Б. ц.
Рубрики: Кристаллография Рентгенография Электронная микроскопия Свободных экз. нет |
Abberation-corrected analytical transmission electron microscopy [Text] : сборник / ed. R. Brydson. - Chichester : Wiley, 2011. - XV, 280 p. : ill. - (RMS-Wiley). - ^aБиблиогр. в конце глав. Указ.: с. 275-280. - ISBN 978-0-470-51851-9 : р2635.00 р.
Доп.точки доступа: Brydson, R. \.\ Свободных экз. нет |
^aЕ072.0с251.34я73-1^2rubbk Соколова, Ольга Сергеевна. Электронная микроскопия нанобиообъектов [Text] : учеб.-метод. комплекс для магистров по дисциплине / О. С. Соколова, А. Г. Богданов, А. В. Гризель. - М. : Ин-т АйТи, 2011. - 140, [2] с., [2] л. ил. : ил. ; 21 см. - (Учебно-методическое обеспечение для подготовки магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки "Нанотехнология" с профилем подготовки "Нанобиотехнологии") (Учебно-методическое обеспечение для подготовки кадров по программам высшего профессионального образования для тематического направления ННС "Нанобиотехнологии"). - ^aБиблиогр.: с. 5, 62. - ISBN 978-5-98453-042-2 : Б. ц. Рубрики: Электронная микроскопия Молекулярная биология Доп.точки доступа: Богданов, Анатолий Георгиевич; Гризель, Анастасия Владимировна Свободных экз. нет |
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Text] : перевод с английского / под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, печ. 2012 (макет 2013). - 582 с. : ил. - ^aБиблиография в конце глав. - ^aПредметный указатель: с. 574—582. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в переплете) : Б. ц.
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОМАТЕРИАЛЫ РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОТЕХНОЛОГИИ Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \.\; Уанг, Жонг Лин \.\ Свободных экз. нет |
Папко, Людмила Федоровна (кандидат технических наук ; род. 1956). Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов. Практикум [Text] : учебно-методическое пособие для студентов учреждений высшего образования по специальности 1-48 01 01 "Химическая технология неорганических веществ, материалов и изделий" / Л. Ф. Папко, А. П. Кравчук ; Учреждение образования "Белорусский государственный технологический университет". - Минск : БГТУ, 2013. - 99 с. : ил., табл. - (Учебники БГТУ / Учреждение образования "Белорусский государственный технологический университет"). - ^aБиблиография: с. 98 (13 назв.). - ISBN 978-985-530-273-6 : Б. ц.
НЕОРГАНИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕРМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОВСКИЙ ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ГРАНУЛОМЕТРИЯ Доп.точки доступа: Кравчук, Александр Петрович (кандидат технических наук) Свободных экз. нет |
Ки-Йонг Чой (кандидат технических наук). Методы технической диагностики поверхности металла [Text] : [монография] / Ки Йонг Чой. - Минск : Экоперспектива, 2016. - 182, [1] с. : ил., табл., схемы. - ^aБиблиография: с. 176—181 (107 назв.). - ISBN 978-985-469-560-0 : Б. ц.
ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ ЦИФРОВЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ АНАЛИЗ ИЗОБРАЖЕНИЙ ПРОМЫШЛЕННОЕ ПРИМЕНЕНИЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОВЕРХНОСТИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ ДЕФЕКТЫ РАЗРУШЕНИЕ МАТЕРИАЛОВ ИЗНОС КОРРОЗИЯ МЕТАЛЛОВ КОРРОЗИОННЫЙ ИЗНОС ОЦЕНКИ МЕТОДЫ ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА Свободных экз. нет |
^a22.338.4я73^a22.371.21я73^a30.377я73^2rubbk Есеев, Марат Каналбекович. Методы диагностики микро- и наносистем [Text] : учебное пособие : [для студентов и аспирантов направлений обучения "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Химия"] / М. К. Есеев, С. Н. Капустин, А. А. Гошев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. гос. автоном. образоват. учреждение высш. образования "Сев. (Аркт.) федер. ун-т им. М.В. Ломоносова". - Архангельск : КИРА, 2016. - 135с. : ил. ; 21 см. - ^aБиблиогр.: с. 134 (16 назв.). - ISBN 978-5-98450-475-1 : р100.00 р.
Рубрики: Наноструктуры Электронная микроскопия Нанокомпозиционные материалы Кл.слова (ненормированные): 1 ; лабораторные работы -- 1 ; задачи -- 1 ; атомно-силовая микроскопия -- 1 ; сканирующая туннельная микроскопия -- 1 ; углеродные композиты Доп.точки доступа: Капустин, Сергей Николаевич; Гошев, Андрей Александрович Свободных экз. нет |
^a81.09^2rugasnti Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц.
Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет |
Суворов, Эрнест Витальевич (доктор физико-математических наук). Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Text] : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. - 2-е изд., переработанное и дополненное. - Москва : Юрайт, 2018. - 179, [1] с. : ил. - (Бакалавр. Академический курс) (УМО ВО рекомендует). - ^aБиблиография: с. 149—151 и в конце глав. - ISBN 978-5-534-06011-9 (в переплете) : Б. ц.
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ ДИФРАКЦИЯ ВОЛН ПЕРИОДИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Свободных экз. нет |
Андрухович, Ирина Михайловна (электроника ; род. 1989). Создание прецизионных микроструктур в матрицах из анодного оксида алюминия для сенсоров потоков плазмы [Text] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Андрухович Ирина Михайловна ; Государственное научное учреждение "Институт физики им. Б. И. Степанова Национальной академии наук Беларуси". - Минск : [s. n.], 2019. - 21 с. : ил. - ^aБиблиография: с. 15—18 (33 назв.). - Б. ц. ; Резюме параллельно на белорусском, русском и английском языках
ПРЕЦИЗИОННОЕ ОБОРУДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ФАРАДЕЯ ЦИЛИНДРЫ СЕНСОРНЫЕ УСТРОЙСТВА ПЛАЗМЕННЫЕ СТРУИ АНОДНОЕ ОКСИДИРОВАНИЕ АНОДНО-ОКСИДНЫЕ ПОКРЫТИЯ Свободных экз. нет |