Грегори, Джанет.     Agile-тестирование [Text] : обучающий курс для всей команды / Джанет Грегори, Лайза Криспин. - Москва : Манн, Иванов и Фербер, 2019. - 527 с. : ил., табл., схемы. - (The Addison-Wesley Signature Series). - ^aБиблиография: с. 514—527 и в подстрочных примечаниях. - ISBN 978-5-00117-880-4 : Б. ц. ГРНТИ ^v6^a50.07.07 ^v6^a50.41.01 УДК ^a004.415.53^v4^zrus Рубрики: ТЕСТИРОВАНИЕ (вычисл. техника)    ПАКЕТЫ ПРИКЛАДНЫХ ПРОГРАММ    ГИБКИЕ ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ МОДУЛИ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника)    ТЕСТИРОВАНИЕ ПРОГРАММ    АВТОМАТИЗАЦИЯ    ГИБКАЯ МЕТОДОЛОГИЯ РАЗРАБОТКИ (программирование) Доп.точки доступа: Криспин, Лайза Свободных экз. нет

Томас, Дональд.     Логическое проектирование и верификация систем в SystemVerilog [Text] : [перевод с английского] / Дональд Томас. - Москва : ДМК Пресс, 2019. - 382 с. : ил., табл. - ^aПредметный указатель: с. 374—382. - ISBN 978-5-97060-619-3 : Б. ц. ГРНТИ ^a50.05.03^v6 ^a47.14.07^v6 УДК ^a004.312'12^v4^zrus ^a621.3.049.771.14-048.24^v4^zrus ^a004.422.5^v4^zrus Рубрики: VERILOG (язык описания)    ЯЗЫКИ ОПИСАНИЯ АППАРАТНЫХ СРЕДСТВ    ЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ    ПРОГРАММИРУЕМЫЕ ЛОГИЧЕСКИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    КОМБИНАЦИОННЫЕ ЛОГИЧЕСКИЕ СХЕМЫ    КОНЕЧНЫЕ АВТОМАТЫ    РЕГИСТРЫ (вычисл. техника)    ОПЕРАТОРЫ (программирование)    ПРОЦЕДУРЫ (информатика)    СТРУКТУРНЫЕ МОДЕЛИ ДАННЫХ (информатика)    ПРОГРАММИРОВАНИЕ    ВЕРИФИКАЦИЯ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника)    ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    ЦИФРОВЫЕ СИСТЕМЫ Свободных экз. нет

Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве [Text] / Г. М. Ясинявичене [и др.]. - М. : Радио и связь, 1989. - 120 с. - Б. ц. УДК ^a621.3.049.771.14.002.56^v3^zrus Рубрики: МИКРОЭЛЕКТРОНИКА    БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    МИКРОПРОЦЕССОРЫ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника) Доп.точки доступа: Ясинявичене, Г. М. Свободных экз. нет

Гальперин, В. С.     Методы тестового контроля параметров и технологии МДП-БИС [Text] / В. С. Гальперин, В. И. Гильман. - М. : [s. n.], 1985. - 48 с. - Б. ц. УДК ^a621.3.049.774.14(048.8)^v3^zrus Рубрики: МИКРОЭЛЕКТРОНИКА    БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    МДП-ТЕХНОЛОГИЯ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника) Доп.точки доступа: Гильман, В. И. Свободных экз. нет

Автоматизированный тестовый контроль производства БИС [Text] / С. С. Булгаков [и др.]. - М. : Радио и связь, 1992. - 192 с. - Б. ц. УДК ^a621.3.049.771.14^v3^zrus Рубрики: МИКРОЭЛЕКТРОНИКА    БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника)    ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ Доп.точки доступа: Булгаков, С. С. Свободных экз. нет

Каравай, М. Ф.     Проверяющие тесты для микросхем серий К155 и К589 [Text] : препринт / М. Ф. Каравай, В. Ф. Халчев. - М. : [s. n.], 1984. - 46 с. - Б. ц. УДК ^a621.317.799:621.3.049.77^v3^zrus Рубрики: ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ    ПРОВЕРКА    ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ    ТЕСТОВЫЙ КОНТРОЛЬ (вычисл. техника) Доп.точки доступа: Халчев, В. Ф. Свободных экз. нет