Афанасьев, Александр Михайлович.     Рентгеновская структурная диагностика в исследование приповерхностных слоев монокристаллов [Text] / А. М. Афанасьева, П. А. Александров, Р. М. Имамов. - Москва : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986. - 95 с. - (Проблемы науки и технологического прогресса). - ^aБиблиогр.: с. 93 (25 назв.). - Б. ц. УДК ^a548.55:539.26^v4^zrus Рубрики: МОНОКРИСТАЛЛЫ    РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ    ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ    РЕНТГЕНОДИАГНОСТИКА Кл.слова (ненормированные): 0 ; Исследование -- 0 ; приповерхностный слой Доп.точки доступа: Александров, Петр Анатольевич; Имамов, Рафик Мамедович Свободных экз. нет

^a29.35^2rugasnti     Bachmann, Florian.     Optimierung der Goniometrie zur Texturbestimmung aus Rontgenbeugungsbildern [Text] : von der Fakultat fur Geowissenschaften, Geotechnik und Bergbau der Technischen Universitat Bergakamie Freiberg genehmigte Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades doctor rerum naturalium Dr. rer. nat. / Florian Bachmann. - Freiberg : [s. n.], 2016. - 209 S. : Abb., Tab. ; 21 см. - ^aBibliogr.: S. 193-209. - ISBN 978-3-658-14940-6 : Б. ц. ГРНТИ ^a29.35 УДК ^a539.26(043.3)^v4^zrus РУБ Рубрики: РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ    РЕНТГЕНОВСКИЕ ДИФРАКТОМЕТРЫ    ГОНИОМЕТРЫ    ТЕКСТУРА    ОПТИМИЗАЦИЯ    РЕНТГЕНОГРАММЫ    КИНЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ Свободных экз. нет

Евграфов, А. А.     Автоматизированные рентгеновские дифрактометры [Text] : обзор / А. А. Евграфов. - М. : [s. n.], 1983. - 62 с. - Б. ц. УДК ^a621.386.12-52^v3^zrus Рубрики: РЕНТГЕНОВСКИЕ ДИФРАКТОМЕТРЫ    РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ    РЕНТГЕНОВСКАЯ АППАРАТУРА Свободных экз. нет

Никитин, Дмитрий Сергеевич (кандидат геолого-минералогических наук).     Современные материалы и технологии в электроэнергетике и электротехнике [Text] : учебное пособие / Д. С. Никитин, И. И. Шаненков, А. П. Леонов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". - Томск : Издательство Томского политехнического университета, 2022. - 140 с. : ил., табл., цв. ил. - ^aБиблиография: с. 140 (13 назв.). - ISBN 978-5-4387-1091-2 : Б. ц. ГРНТИ ^a45.09^v6 ^a45.01.33^v6 УДК ^a621.3-03(075)^v4^zrus Рубрики: ЭЛЕКТРОЭНЕРГЕТИКА    ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ    ПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ    ДИЭЛЕКТРИКИ    КЕРАМИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ    НАНОМАТЕРИАЛЫ    НОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ    СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ    ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ    РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ    РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ Доп.точки доступа: Шаненков, Иван Игоревич; Леонов, Андрей Петрович (кандидат технических наук, электротехника ; род. 1974) Свободных экз. нет