Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Text] : перевод с английского / под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, печ. 2012 (макет 2013). - 582 с. : ил. - ^aБиблиография в конце глав. - ^aПредметный указатель: с. 574—582. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в переплете) : Б. ц. ГРНТИ ^a29.35.37^96 УДК ^a537.533.35^v4^zrus ^a620.3^v4^zrus Рубрики: РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ    НАНОМАТЕРИАЛЫ    РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ    НАНОТЕХНОЛОГИИ Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \.\; Уанг, Жонг Лин \.\ Свободных экз. нет

^a81.09^2rugasnti         Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц. ГРНТИ ^a81.09 ^a29.35.43 УДК ^a620.18-022.532^v4^zrus ^a539.24/.27^v4^zrus ^a537.533.35^v4^zrus РУБ + Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ    НАНОСТРУКТУРЫ    СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ    СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ    МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ    ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ    ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ    РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет

Суворов, Эрнест Витальевич (доктор физико-математических наук).     Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Text] : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. - 2-е изд., переработанное и дополненное. - Москва : Юрайт, 2018. - 179, [1] с. : ил. - (Бакалавр. Академический курс) (УМО ВО рекомендует). - ^aБиблиография: с. 149—151 и в конце глав. - ISBN 978-5-534-06011-9 (в переплете) : Б. ц. ГРНТИ ^a81.09^v6 УДК ^a620.22(075)^v4^zrus Рубрики: ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ    МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ    ДИФРАКЦИЯ ВОЛН    ПЕРИОДИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ    РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ    РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ    ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Свободных экз. нет

Поленов, Юрий Владимирович (доктор химических наук).     Наноматериалы и нанотехнологии [Text] : учебник / Ю. В. Поленов, Е. В. Егорова. - Санкт-Петербург [и др.] : Лань, 2020. - 179 с. : ил. - (Среднее профессиональное образование). - ^aБиблиография: с. 173—176. - ISBN 978-5-8114-5758-8 (в переплете) : Б. ц. ГРНТИ ^a81.09 УДК ^a620.22-022.532(075)^v4^zrus ^a620.3(075)^v4^zrus Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ    НАНОТЕХНОЛОГИИ    НАНОЧАСТИЦЫ    НАНОСТРУКТУРЫ    НАНОКЛАСТЕРЫ    НАНОСИСТЕМЫ    ФУЛЛЕРЕНЫ    МИКРОЭМУЛЬСИИ    ОДНОМЕРНЫЕ СИСТЕМЫ    ПОРИСТЫЕ МАТЕРИАЛЫ    НАНОТРУБКИ    ДВУМЕРНЫЕ СИСТЕМЫ    НАНОПЛЕНКИ    ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА    ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ    РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ    ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Доп.точки доступа: Егорова, Елена Владимировна (кандидат химических наук) Свободных экз. нет