Scanning auger electron microscopy [Text] : монография / Ed.: M.Prutton; Ed.: M.El Gomati. - Chichester (West Sussex) : Wiley, 2006. - XVII, 368p. : ill. - ISBN 0-470-86677-2 : Б. ц. ГРНТИ ^a29.31.26 УДК ^a543.428.2 Рубрики: Оже-спектроскопия Доп.точки доступа: Prutton, M. \.\; El Gomati, M. \.\ Свободных экз. нет

Тронева, Н. В.     Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов [Text] : методический материал / Н. В. Тронева, М. А. Тронева. - М. : Металлургия, 1996. - 208с. : ил. - ^aБиблиогр.:с.199-204 (129 назв.). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aElectron-probe microanalysis of heterogenous surfaces from the point of view of the image identification theory     Содержание:    Перевод заглавия: ^aElectron-probe microanalysis of heterogenous surfaces from the point of view of the image identification theory ГРНТИ ^a31.19 УДК ^a543.422.8.063 Рубрики: <Рентгеноспектральный> <анализ> <микрохимический>    <Оже>-<спектроскопия> Доп.точки доступа: Тронева, М.А. Свободных экз. нет

Петров, В. Н.     Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину [Text] : учеб. пособие / В. Н. Петров. - СПб. : [s. n.], 2011. - 75 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 73-74. - Б. ц. ; В надзаг.: Санкт-Петербургский гос. политехнический ун-т ГРНТИ ^a29.31.26 УДК ^a543.428.2 Рубрики: Оже-спектроскопия Свободных экз. нет

Pisarek, M.     Inzynieria materialowa [Text] : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. - Warszawa : Offic. wydaw. politech. Warszawskiej, 2013. - 97 s.с. : il. - ^aБиблиогр.: с. 85-95 (174 назв.). - ISSN 1234-5229. - ISBN 978-83-7814-094-8 : Б. ц. ; Рез. англ. ГРНТИ ^a29.31.26 УДК ^a543.428.2 Рубрики: Оже-спектроскопия Свободных экз. нет

Рефахати, Нима Хашем (физика ; род. 1978).     Оптические и структурные характеристики тонких пленок Cu(In,Ga)Se2 и радиационная стойкость наноструктурных солнечных элементов, созданных на их основе [Text] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Рефахати Нима Хашем ; Государственное научно-производственное объединение "Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению". - Минск : [s. n.], 2014. - 21 с. : ил. - ^aБиблиография: с. 17—18 (10 назв.). - Б. ц. ; Резюме на русском, белорусском, английском языках ГРНТИ ^a29.19^96 ^a29.33^96 ^a01.04.10 УДК ^a539.216.2(043.3)^v4^zrus Рубрики: ТОНКИЕ ПЛЕНКИ    НАНОСТРУКТУРНОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ    НАНОМАТЕРИАЛЫ    СОЛНЕЧНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ    РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ    СТРУКТУРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ    ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ    ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ    АВТОРЕФЕРАТЫ Свободных экз. нет

Капустин, Владимир Иванович (доктор физико-математических наук ; род. 1948).     Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур [Text] : учебное пособие / В. И. Капустин, А. С. Сигов ; Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "МИРЭА — Российский технологический университет". - Москва : Инфра-М, 2019. - 243 с. : ил., табл. - (Высшее образование — Бакалавриат) (Бакалавриат). - ^aБиблиография: с. 238—240 (47 назв.). - ISBN 978-5-16-013806-0 (в переплете) : Б. ц. ГРНТИ ^a81.09^v6 ^a81.81^v6 УДК ^a620.3:005.6(075)^v4^zrus Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ    НАНОСТРУКТУРНОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ    КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА    УЛЬТРАДИСПЕРСНЫЕ ПОРОШКИ    ИОННО-ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ    ЭПИТАКСИАЛЬНЫЕ СТРУКТУРЫ    КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ    ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ    ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ Доп.точки доступа: Сигов, Александр Сергеевич (доктор физико-математических наук ; род. 1945) Свободных экз. нет