Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Text] : учеб. пособие для студентов вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4.изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.357-358 (38 назв.). - ISBN 5-87623-096-0 : Б. ц.
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н. Свободных экз. нет |
Подсвиров, О. А. Физика твердого тела. Дифракция электронов на кристалле с акустическими колебаниями [Text] : выставочные материалы / Подсвиров О.А. - [S. l. : s. n.], 2003. - 55 с. : ил. - Б. ц.
См. : МБА/ЭДД Свободных экз. нет |
Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons [Text] : материал технической информации. - [S. l. : s. n.], 2002. - XVI,462 p. : ill. - (Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes ; vol.123). - ^aБиблиогр.:с.447-450.Указ.:c.451-462. - ISBN 0-12-014765-3 : Б. ц.
Электронная спектроскопия Электронография Голография Свободных экз. нет |
Рентгенография и электронная микроскопия материалов [Text] : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.]. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008. - 180 с. : ил. - (Приоритеный национальный проект "Образование"). - ^aБиблиогр.: с. 180 (10 назв.). - ISBN 978-5-7422-1994-1 : Б. ц. ; В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Андреева, В.Д.; Новиков, Е.В.; Боричева, И.К.; Спешилова, А.Б. Свободных экз. нет |
Deininger, Ch. Neue Methoden zur quantitativen Auswertung von energiegefilterten konvergenten Elektronenbeugungsbildern [Text] : diss. / Ch. Deininger. - Stuttgart : [s. n.], 1994. - 167 S. - Б. ц. ; Библиогр.:с.161-167
Свободных экз. нет |
Electron crystallography [Text] : proc. of the NATO Advanced study inst. on electron crystallography, Erice, Sicily, 22 May - 2 June, 1997 / Ed.:D.L.Dorset et al. - Dordrecht et al. : Kluwer, 1997. - XVIII,439 p. : ill. - (NATO advanced study institutes series. Ser.E, Applied sciences ; vol.347). - ^aБиблиогр. в конце статей. Указ.: с.435-439. - ISBN 0-7923-4876-1 : Б. ц.
Доп.точки доступа: Dorset, D.L. Свободных экз. нет |
Андреева, В. Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов [Text] : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков ; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. - Санкт-Петербург : Изд-во Политехн. ун-та, 2017. - 142с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 139. - ISBN 978-5-7422-5879-7 : р200 р.
Электронография Микроскопия электронная Доп.точки доступа: Горшков, И.И.; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Свободных экз. нет |
Пинес, Борис Яковлевич (доктор физико-математических наук ; 1905—1968). Лекции по структурному анализу [Text] : учебное пособие для университетов / Б. Я. Пинес. - 2-е (переработанное) изд. - Харьков : Издательство Харьковского государственного университета им. А. М. Горького, 1957. - 454, [1] с. : ил. - ^aБиблиография: с. 452—455 (143 назв.). - Б. ц.
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ РЕШЕТКИ ПОЛИКРИСТАЛЛЫ МОНОКРИСТАЛЛЫ ИОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ МАТЕМАТИЧЕСКАЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЯ СИММЕТРИЯ КРИСТАЛЛОВ БРАВЕ РЕШЕТКИ ПРОСТРАНСТВЕННЫЕ ГРУППЫ СИММЕТРИИ РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ РАССЕЯНИЯ ТЕОРИЯ ХИМИЧЕСКАЯ СВЯЗЬ РЕНТГЕНОГРАММЫ ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ Свободных экз. нет |
Глокер, Ричард. Рентгеновские лучи и испытание материалов [Text] : перевод с немецкого / Р. Глокер. - Ленинград : ГТТИ, 1932. - 395, [1] с. : ил., табл. - ^aБиблиография: с. 388—396. - ^aПредметный указатель: с. 385—387. - Б. ц.
РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ РЕНТГЕНОВСКИЕ ТРУБКИ ПОГЛОЩЕНИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ДЕБАЯ—ШЕРРЕРА МЕТОД СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ГЕКСАГОНАЛЬНЫЕ РЕШЕТКИ РЕНТГЕНОГРАММЫ ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ Свободных экз. нет |