Nanoscale calibration standards and methods [Text] : dimensional and related measurements in the micro- and nanometr range / ed. G. Wilkening, L. Koenders. - Weincheim : Wiley-VCH, 2005. - XXII, 519 p. : ill. - ^aБиблиогр. в конце ст. Указ.: с. 515-519. - ISBN 3-527-40502-X : р6577.68 р.
Доп.точки доступа: Wilkening, G. \.\; Koenders, L. \.\ Свободных экз. нет |
Методы и средства измерений метрических резьб и внутренних угловых размеров [Text] : учебное пособие / П. Н. Хопин, В. И. Высоцкая, Т. В. Токмакова, С. Б. Маликов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - Москва : Изд-во МАИ, 2020. - 64с. : ил. - (Учебное пособие). - ^aБиблиогр.: с. 60-61 (8 назв.). - ISBN 978-5-4316-0685-4 : р100 р.
Микроскопы измерительные Угломеры Доп.точки доступа: Хопин, П.Н.; Высоцкая, В.И.; Токмакова, Т.В.; Маликов, С.Б.; Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет) Свободных экз. нет |