Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Text] : перевод с английского / под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, печ. 2012 (макет 2013). - 582 с. : ил. - ^aБиблиография в конце глав. - ^aПредметный указатель: с. 574—582. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в переплете) : Б. ц.
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОМАТЕРИАЛЫ РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОТЕХНОЛОГИИ Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \.\; Уанг, Жонг Лин \.\ Свободных экз. нет |
^a81.09^2rugasnti Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц.
Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет |
Никитин, Дмитрий Сергеевич (кандидат геолого-минералогических наук). Современные материалы и технологии в электроэнергетике и электротехнике [Text] : учебное пособие / Д. С. Никитин, И. И. Шаненков, А. П. Леонов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". - Томск : Издательство Томского политехнического университета, 2022. - 140 с. : ил., табл., цв. ил. - ^aБиблиография: с. 140 (13 назв.). - ISBN 978-5-4387-1091-2 : Б. ц.
ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ ПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИКИ КЕРАМИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ НАНОМАТЕРИАЛЫ НОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТЕХНОЛОГИЯ МАТЕРИАЛОВ Доп.точки доступа: Шаненков, Иван Игоревич; Леонов, Андрей Петрович (кандидат технических наук, электротехника ; род. 1974) Свободных экз. нет |