Анализ поверхностных явлений при напылении индия на кремний [Text] / [Л. И. Гречихин и др.]. - Минск : Право и экономика, 2015. - 54 с. : ил., схемы. - ^aБиблиография: с. 53?54 (28 назв.). - ISBN 978-985-552-435-0 : Б. ц. ; Авторы указаны на обороте титульного листа
ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫЙ СЛОЙ НАПЫЛЕНИЕ ДИМЕРЫ АЛЛОТРОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ КРИСТАЛЛЫ ИНДИЙ КРЕМНИЙ Доп.точки доступа: Гречихин, Леонид Иванович (доктор физико-математических наук); Шмермбекк, Юлия (физик); Dahne, Mario (физик); Лепин, Георгий Федорович (доктор технических наук ; род. 1931) Свободных экз. нет |
^a81.09^2rugasnti Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц.
Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет |