Якимов, И. С. Принципы реализации и состав интерактивной системы рентгеноструктурного анализа поликристаллов [Text] : препринт / И. С. Якимов, А. А. Бондаренко, С. Д. Кирик. - Красноярск, 1990. - 55 с. - (Препринт ; N672Ф). - ^aБиблиогр.: с. 47-51 (64 назв.). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aPrinciples of realization and content of interactive system of X-ray structural analysis of polycrystals. Содержание: Перевод заглавия: ^aPrinciples of realization and content of interactive system of X-ray structural analysis of polycrystals.
Доп.точки доступа: Бондаренко, А.А.; Кирик, С.Д. Свободных экз. нет |
Лапин, Е. Г. Определение ориентации монокристаллов на рентгеновском дифрактометре [Text] : препринт / Е. Г. Лапин, Г. П. Солодов. - Гатчина, 1993. - 19 c. : ил. - (Препринт ; 1879). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aDetermination of single-crystals orientation by means of X-ray diffractometer Содержание: Перевод заглавия: ^aDetermination of single-crystals orientation by means of X-ray diffractometer
Доп.точки доступа: Солодов, Г.П. Свободных экз. нет |
Гынгазов, Л. Н. Влияние волноводного эффекта на профиль интенсивности при брэгговской дифракционной фокусировке [Text] : препринт / Л. Н. Гынгазов, С. И. Тютюнников. - Препринт. - Дубна, 1999. - 14 с. : ил. - (Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р14-99-277). - Б. ц.
Доп.точки доступа: Тютюнников, С.И. Свободных экз. нет |
Шехтман, В. Ш. Введение в рентгеновскую кристаллографию [Text] : учеб. пособие / В. Ш. Шехтман, Р. А. Диланян. - Черноголовка : [s. n.], 2002. - 144 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.140. - Б. ц. ; В надзаг.:Подмоск. фил. МГУ им. М.В.Ломоносова.
Доп.точки доступа: Диланян, Р.А. Свободных экз. нет |
Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Text] : учеб. пособие для студентов вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4.изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.357-358 (38 назв.). - ISBN 5-87623-096-0 : Б. ц.
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Скаков, Ю.А.; Расторгуев, Л.Н. Свободных экз. нет |
Иванов, А. Н. Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Text] : учеб.пособие для студентов спец.0709.00 и направлений 5104.3 и 5104.11 / А. Н. Иванов, А. М. Поляков. - М. : [s. n.], 2002. - 78 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 74-76 (31 назв.). - Б. ц. В надзаг.: Моск. гос. ин-т стали и сплавов, Каф. физ. материаловедения.
Доп.точки доступа: Поляков, А.М. Свободных экз. нет |
Алешина, Л. А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей. Получение информации о структурных характеристиках [Text] : учеб. пособие / Л. А. Алешина, О. Н. Шиврин. - Петрозаводск : [s. n.], 2002. - 107 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.102-106. - Б. ц. В надзаг.:Петрозаводск. гос. ун-т.
Доп.точки доступа: Шиврин, О.Н. Свободных экз. нет |
Алешина, Л. А. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах [Text] : учеб. пособие / Л. А. Алешина, О. Н. Шиврин. - Петрозаводск : [s. n.], 2001. - 100 с. : ил. - ^aБиблиогр.:с.97 (33 назв.). - Б. ц. В надзаг.:Петрозавод. гос. ун-т.
Доп.точки доступа: Шиврин, О.Н. Свободных экз. нет |
Алешина, Л. А. Искаженные кристаллы. Анализ дифракционных линий [Text] : учеб. пособие / Л. А. Алешина, О. Н. Шиврин. - Петрозаводск : [s. n.], 2002. - 125 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 120. - Б. ц. В надзаг.: Петрозавод гос. ун-т.
Доп.точки доступа: Шиврин, О.Н. Свободных экз. нет |
Гынгазов, Л. Н. Приближение локального отражения в меридиональных схемах брэгговской фокусировки [Text] : препринт / Л. Н. Гынгазов, С. И. Тютюнников. - Препринт. - Дубна, 2001. - 14 с. : ил. - (Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р14-2001-227). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aApproximation of local reflection in meridional schemes of bragg focusing^ePreprint Содержание: Перевод заглавия: ^aApproximation of local reflection in meridional schemes of bragg focusing^ePreprint
Доп.точки доступа: Тютюнников, С.И. Свободных экз. нет |
Алешина, Л. А. Рентгенография кристаллов [Text] : учеб. пособие / Л. А. Алешина, О. Н. Шиврин. - Петрозаводск : [s. n.], 2004. - 319 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 311-316 (149 назв.). - ISBN 5-230-08924-5 : Б. ц. В надзаг.: Петрозав. гос. ун-т.
См. : МБА/ЭДД, См. : МБА/ЭДД Доп.точки доступа: Шиврин, О.Н. Свободных экз. нет |
Мытниченко, С. В. Борновское приближение искаженных волн в случае оптического основного потенциала [Text] : препринт / С. В. Мытниченко. - Новосибирск, 2004. - 11 с. : ил. - (Препринт / Институт ядерной физики им. Г.И.Будкера (Новосибирск) ; ИЯФ 2004-25). - ^aБиблиогр.: с. 10-11(16 назв.). - Б. ц.
См. : МБА/ЭДД Свободных экз. нет |
Андреева, В. Д. Методы анализа. Рентгеноструктурный анализ [Text] : учеб. пособие / В.Д. Андреева, М.И. Анисимов, Е.В.Новиков. - СПб. : Изд-во С.-Петерб. гос. политехн. ун-та, 2004. - 97 с. - ^aБиблиогр.: с. 94. - ISBN 5-7422-0582-1 : Б. ц.
См. : МБА/ЭДД Доп.точки доступа: Анисимов, М.И.; Новиков, Е.В. Свободных экз. нет |
Grybos, P. Low noise multichannel integrated circuits in CMOS technology for physics and biology applications [Text] : монография / P. Grybos. - Krakow : Wydaw. AGH, 2002. - 127 p. - (Rozprawy monografie / Akademia gorniczo-hutnicza im.Stanislawa Staszica(Krakow), ISSN 0867-6631 ; 117). - ^aПарал. тит. л. пол.Библиогр.:121-127. - Б. ц.
Нейрофизиологические приборы и аппараты Свободных экз. нет |
Джемс, Р. В. Введение в рентгеновский анализ [Text] : монография / Р.В. Джемс; Пер. с англ. Н.А.Шишакова. - М. : Гос. техн.-теорет. изд-во, 1932. - 95 с. : ил. - Б. ц.
Свободных экз. нет |
Фетисов, Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Text] : выставочные материалы / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова . - М. : Физматлит, 2007. - 671 с. : ил. - (Фундаментальная и прикладная физика). - ^aБиблиогр.: с. 636-663 (547 назв.). Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 : Б. ц.
Рентгеноструктурный анализ Рентгеноспектральный анализ Свободных экз. нет |
Станция "Структурное материаловедение" на курчатовском источнике синхротронного излучения [Text] : препринт / С.В. Амарантов, А.А. Велигжанин, Е.В. Гусева [и др.]. - М., 2004. - 48 с. : ил. - (Препринт / "Курчатовский ин-т", российский науч. центр (Москва) ; ИАЭ-6335/14). - ^aБиблиогр.: с. 46-47(32 назв.). - Б. ц.
Доп.точки доступа: Амарантов, С.В.; Велигжанин, А.А.; Гусева , Е.В.; Хлебников, А.С.; Чернышев, А.А. Свободных экз. нет |
Рентгенография и электронная микроскопия материалов [Text] : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.]. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008. - 180 с. : ил. - (Приоритеный национальный проект "Образование"). - ^aБиблиогр.: с. 180 (10 назв.). - ISBN 978-5-7422-1994-1 : Б. ц. ; В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
Электронография Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Андреева, В.Д.; Новиков, Е.В.; Боричева, И.К.; Спешилова, А.Б. Свободных экз. нет |
Асланов, Леонид Александрович. Прецизионный рентгендифракционный эксперимент [Text] / [Л. А. Асланов, Г. В. Фетисов, А. В. Лактионов и др.] Под ред. Л. А. Асланова. - [S. l. : s. n.], 1989. - 218,[2] с. : ил. - Б. ц. ; Авт. указаны на обороте тит. л.-Библиогр. в конце глав
Доп.точки доступа: Фетисов, Г.В.; Лактионов, А.В. Свободных экз. нет |
Зубенко, Василий Васильевич. Экспериментальные методы рентгеноструктурного анализа [Text] : учеб. пособие / Василий Васильевич Зубенко. - М. : Изд-во МГУ, 1992. - 150 с. : ил. - (Физика). - Б. ц.
Свободных экз. нет |