Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Text] : IX Международная конференция, Минск, 12-15 октября 2010 г. - Минск : Беларуская навука, 2010. - 265, [1] с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце ст. - ISBN 978-985-08-1209-4 : Б. ц. ; В надзаг.: Нац. акад. наук Беларуси, Ин-т тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова. ; Часть ст. на англ. яз.
ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ БИОЛОГИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОТЕХНОЛОГИИ ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ АППАРАТНЫЕ СРЕДСТВА ЭВМ ПРИКЛАДНЫЕ АСПЕКТЫ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ НАНОСТРУКТУРЫ ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТИ КОНФЕРЕНЦИИ МЕЖДУНАРОДНЫЕ КОНФЕРЕНЦИИ Беларусь, Республика Минск, город Кл.слова (ненормированные): 0 ; Зондовая микроскопия Свободных экз. нет |