Петров, В. И. Сканирующая микроскопия [Text] : выставочные материалы / Петров В.И. - М. : Физ. фак. МГУ, 2001. - 108 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с.108. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Лукьянов, А.Е. Свободных экз. нет |
Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. Зондовая микроскопия-98 [Text] : материалы Всерос. совещания / Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. - Нижний Новгород : [s. n.], 1998. - 209 с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце ст. - Б. ц. В надзаг.:Ин-т физики микроструктур РАН.
Свободных экз. нет |
Российская конф.по электронной микроскопии(17;1998;Черноголовка)Российская конф.по электронной микроскопии (17 ; 1998). ХVII Российская конференция по электронной микроскопии [Text] : ЭМ'98, 15-18 июня 1998 г. / Российская конф.по электронной микроскопии(17;1998;Черноголовка)Российская конф.по электронной микроскопии (17 ; 1998) . - Черноголовка : [s. n.], 1998. - 325 с. - ISBN 5-89589-004-0 : Б. ц. В надзаг.:Рос.АН,Науч.совет по электрон.микроскопии,Ин-т кристаллографии,Ин-т проблем технологии мироэлектроники и особочистых материалов.Авт.указ.:с.319-325
Свободных экз. нет |
Российская конф.по электронной микроскопии (18 ; 2000). XYШ Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2000 [Text] : 5 июня-8 июля 2000 г.:Тез. докл. / Российская конф.по электронной микроскопии (18 ; 2000) . - Черноголовка : [s. n.], 2000. - 338 с. - ^aБиблиогр.в конце отд.ст.Авт.указ.:с.331-338. - ISBN 5-89589-020-2 : Б. ц. В надзаг.:Рос.АН, Науч.совет по электрон.микроскопии, Ин-т пробл.технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии.
Свободных экз. нет |
Орелович, О. Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии [Text] : препринт / О. Л. Орелович, П. Ю. Апель. - Препринт. - Дубна, 2000. - 8 с. : ил. - (Сообщения Объединенного института ядерных исследований ; Р13-2000-140). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aMethods of track membrane preparation for scanning electron microscopy Содержание: Перевод заглавия: ^aMethods of track membrane preparation for scanning electron microscopy
Микроскопия электронная Доп.точки доступа: Апель, П.Ю. Свободных экз. нет |
Темных, В. И. Просвечивающая и растровая электронная микроскопия [Text] : учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В. И. Темных, Г. М. Зеер, Е. М. Артемьев. - Красноярск : [s. n.], 2000. - 80 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 79-80 (17 назв.). - ISBN 5-7636-0292-7 : Б. ц. В надзаг.: Краснояр. гос. техн. ун-т.
Доп.точки доступа: Зеер, Г.М.; Артемьев, Е.М. Свободных экз. нет |
Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. Зондовая микроскопия - 2000 [Text] : материалы совещ. / Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. - Н.Новгород : [s. n.], 2000. - 388 с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце отд. докл. Авт. указ.: с.383-384. - Б. ц. В надзаг.: Ин-т физики микроструктур РАН.
Свободных экз. нет |
Российский симп.по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед.твердых тел (12 ; 2001). ХП Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'2001 [Text] : 4-6 июня 2001 г. / Российский симп.по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед.твердых тел (12 ; 2001) . - Черноголовка : [s. n.], 2001. - 193 с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце отд. докл. Авт. указ.: с.190-193. - ISBN 5-89589-024-5 : Б. ц. В надзаг.: Рос. АН, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии и др.
Твердые тела Свободных экз. нет |
Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. Зондовая микроскопия - 99 [Text] : материалы Всерос. совещания, Н.Новгород, 10-13 марта 1999 г. / Институт физики микроструктур,Нижний Новгород. - Нижний Новгород : [s. n.], 1999. - 434 с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце ст. - Б. ц. В надзаг.:Ин-т физики микроструктур РАН.
Свободных экз. нет |
Институт физики микроструктур,Н.Новгород. Scanning probe microscopy - 2001 [Text] : international workshop / Институт физики микроструктур,Н.Новгород. - Nizhny Novgorod : [s. n.], 2001. - 274 p. : il. - ^aБиблиогр. в конце отд. докл. - Б. ц. В надзаг.: Institute for physics of microstructures RAS.
Свободных экз. нет |
Нефедов, С. А. Основы просвечивающей электронной микроскопии [Text] : учеб. пособие / С. А. Нефедов. - Самара : Изд-во "Самар. ун-т", 2004. - 243 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 236-238 (49 назв.). Предм. указ.: с. 239-243. - ISBN 5-86465-292-X : Б. ц. В надзаг.: Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Самар. гос. ун-т", Каф. физики твердого тела.
См. : МБА/ЭДД, См. : МБА/ЭДД Свободных экз. нет |
Новгородский гос.ун-т им.Ярослава Мудрого. Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) [Text] : программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос.ун-т им.Ярослава Мудрого. - Великий Новгород : ИПЦ НовГУ им. Ярослава Мудрого, 2004. - 144 с. - ^aБиблиогр. в конце ст. - Б. ц. В надзаг.: Новгородский гос.ун-т им.Ярослава Мудрого.
Микроскопия электронная См. : МБА/ЭДД Свободных экз. нет |
Бахтизин, Р. З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии [Text] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по спец. 010400 - "Физика" / Р.З. Бахтизин, Р.Р. Галлямов. - Уфа : РИО БашГУ, 2004. - 82 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 81-82 (40 назв.). - ISBN 5-7477-1035-4 : Б. ц. ; В надзаг.: Башкир. гос. ун-т
См. : МБА/ЭДД Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р. Свободных экз. нет |
Electron microscopy and holography [Text] : материал технической информации. - [S. l. : s. n.], 2002. - XIV,340 p. : ill. - (Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes ; vol.121). - ^aБиблиогр.:с.330-332.Указ.:c.333-340. - ISBN 0-12-014763-7 : Б. ц.
Голография Свободных экз. нет |
Electron microscopy and holography II [Text] : материал технической информации. - [S. l. : s. n.], 2002. - XIV,336 p. : ill. - (Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes ; vol.122). - ^aБиблиогр.:с.324-327.Указ.:c.329-336. - ISBN 0-12-014764-5 : Б. ц.
Голография Свободных экз. нет |
Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons [Text] : материал технической информации. - [S. l. : s. n.], 2002. - XVI,462 p. : ill. - (Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes ; vol.123). - ^aБиблиогр.:с.447-450.Указ.:c.451-462. - ISBN 0-12-014765-3 : Б. ц.
Электронная спектроскопия Электронография Голография Свободных экз. нет |
Scanning probe microscopy [Text] : 7th Intern. colloquium on scanning probe microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.9-11, 1999 / Ed.:M.Yoshimura et al. - Tokyo : Jap.soc.of appl.phys., 2000. - 3701-3833 p. : ill. - (Japanese journal of applied physics.Pt.1.Regular papers, short notes & review papers, ISSN 0021-4922 ; 2000,Vol.39,N 6B). - ^aБиблиогр. в конце ст. Указ. в конце кн. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Yoshimura, M.; International colloquium on scanning probe microscopy Свободных экз. нет |
Просвечивающая и растровая электронная микроскопия [Text] : учеб. пособие / В. И. Темных [и др.]. - Красноярск : КГТУ, 2005. - 91 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 91(19 назв.). - Б. ц. ; В надзаг.: Краснояр. гос. техн. ун-т
См. : МБА/ЭДД Доп.точки доступа: Темных, В.И.; Зеер, Г.М.; Артемьев, Е.М.; Лямкина, Н.Э.; Готовко, С.А. Свободных экз. нет |
Foster, A. Scanning probe microscopy. Atomic scale engineering by forces and currents [Text] : монография / A. Foster, W. Hofer. - New York (NY) [etc.] : Springer, 2006. - XIV, 281 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - ^aБиблиогр. в конце глав. Указ.: с. 279-281. - ISBN 0-387-40090-7 : р3994.39 р.
Доп.точки доступа: Hofer, W. Свободных экз. нет |
Рид, С. Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Text] : монография / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле). - ^aБиблиогр.: с. 205-215. Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 : Б. ц.
Микроскопия электронная Свободных экз. нет |