Всероссийская конф.по рентгеноспектральному анализу (3 ; 1998). Ш Всероссийская и VI Сибирская конференция по рентгеноспектральному анализу [Text] : тез. докл. / Всероссийская конф.по рентгеноспектральному анализу (3 ; 1998) , Сибирская конф.по рентгеноспектральному анализу (6 ; 1998)! . - Иркутск : [s. n.], 1998. - 93 с. - Б. ц. В надзаг.: Иркут. гос. ун-т, Ин-т зем. коры СО РАН, Ин-т геохимии СО РАН
Доп.точки доступа: Сибирская конф.по рентгеноспектральному анализу Свободных экз. нет |
Фетисов, Г. В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Text] : выставочные материалы / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова . - М. : Физматлит, 2007. - 671 с. : ил. - (Фундаментальная и прикладная физика). - ^aБиблиогр.: с. 636-663 (547 назв.). Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 : Б. ц.
Рентгеноструктурный анализ Рентгеноспектральный анализ Свободных экз. нет |
Рид, С. Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Text] : монография / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др. - М. : Техносфера, 2008. - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле). - ^aБиблиогр.: с. 205-215. Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 : Б. ц.
Микроскопия электронная Свободных экз. нет |
Рентгеноспектральный анализ [Text] : учеб. пособие / Междунар. пед. ун-т ; [В. Я. Борходоев]. - Магадан : МПУ, 1996. - 90 с. : ил. ; 27 см. - ^aБиблиогр.: с. 87-89. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Борходоев, Владимир Яковлевич; Международный пед. ун-т (Магадан) Свободных экз. нет |
The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi) [Text] : материалы временных коллективов. - [S. l. : s. n.], 1992. - XXX,691 p. : ill. - (Advances in X-ray analysis ; vol.35A). - ISBN 0-306-44249-3 : Б. ц.
Свободных экз. нет |
The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi) [Text] : материалы временных коллективов. - [S. l. : s. n.], 1992. - 693-1333 p. : ill. - (Advances in X-ray analysis ; vol.35B). - Б. ц.
Свободных экз. нет |
Proc.of the 41st annual conference on applications of X-ray analysis,Aug.3-7,1992 Colorado Springs(Co) [Text] : материалы временных коллективов. - [S. l. : s. n.], 1993. - XXIII,685 p. : ill. - (Advances in X-ray analysis ; vol.36). - ISBN 0-306-44571-9 : Б. ц.
Свободных экз. нет |
Журнал структурной химии [Text] : приложение / Российская АН, Сибирское отделение. - Новосибирск : [s. n.], 2011. - 196 с. : ил. - ^aБиблиогр. в конце отд. ст. - Б. ц.
Химическая связь Свободных экз. нет |
Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь [Text] : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2011. - 196 с. : ил. - (Журнал структурной химии : приложение ; т. 52). - ^aБиблиогр. в конце ст. - Б. ц.
Электронная спектроскопия Химическая связь Доп.точки доступа: Мазалов, Л.Н. \.\ Свободных экз. нет |
Жураковский, Евгений Александрович. Электронные состояния в ферримагнетиках [Text] / Е. А. Жураковский, П. П. Киричок ; Академия наук УССР, Институт проблем материаловедения. - Киев : Наукова думка, 1985. - 279, [1] с. - ^aБиблиография: с. 258—277 (453 назв.). - Б. ц.
ФЕРРИМАГНЕТИКИ ФЕРРОШПИНЕЛИ МАГНИТНАЯ СТРУКТУРА ИОНЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ СОСТОЯНИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; Магнитная ферритометрия Доп.точки доступа: Киричок, Петр Павлович; Академия наук УССР. Институт проблем материаловедения Свободных экз. нет |
^a49^2rugasnti Акустооптические и радиолокационные методы измерений и обработки информации [Text] : 2-я междунар. конф., 25-27 сент. 2007 г., Суздаль, Россия : доклады. - М. : Изд-во ВООО ВОИ, 2007. - 202, [1] с. : ил. ; 29 см. - (Труды Российского научно-технического общества радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова) (Акустооптические и радиолокационные методы измерений и обработки информации ; вып. 2). - ^aБиблиогр. в конце докл.Авт. указ.: с. 202. - ISBN 978-5-93907-031-7 : Б. ц.
Рубрики: Акустические измерения Оптические измерения Рентгеноспектральный анализ Свободных экз. нет |
Клюшников, О. И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия [Text] : монография / О. И. Клюшников. - Екатеринбург : УрГАУ, 2016. - 388с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 362-388 (314 назв.). - ISBN 978-5-905617-77-5 : р260 р.
Свободных экз. нет |
^a81.09^2rugasnti Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц.
Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет |
Суворов, Эрнест Витальевич (доктор физико-математических наук). Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Text] : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. - 2-е изд., переработанное и дополненное. - Москва : Юрайт, 2018. - 179, [1] с. : ил. - (Бакалавр. Академический курс) (УМО ВО рекомендует). - ^aБиблиография: с. 149—151 и в конце глав. - ISBN 978-5-534-06011-9 (в переплете) : Б. ц.
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ ДИФРАКЦИЯ ВОЛН ПЕРИОДИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Свободных экз. нет |
Блинов, Николай Николаевич (доктор технических наук). Рентгеновские питающие устройства [Text] / Н. Н. Блинов. - Москва : Энергия, 1980. - 198, [1] с. : ил., табл. - ^aБиблиография: с. 193—197 (77 назв.) и в подстрочных примечаниях. - Б. ц.
РАДИАЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЭКСПОНОМЕТРЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ ТРУБКИ КОММУТАЦИОННЫЕ УСТРОЙСТВА ИМПУЛЬСНЫЕ УСТРОЙСТВА ДАТЧИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СХЕМЫ Свободных экз. нет |
Богданова, Ирина Васильевна. Оперативный контроль качества материалов цементного производства [Text] / И. В. Богданова, Г. Б. Егоров ; под редакцией Б. В. Волконского. - Ленинград : Стройиздат, Ленинградское отделение, 1983. - 181, [2] с. : ил., табл. - ^aБиблиография: с. 177—182 (92 назв.). - Б. ц.
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ ПОРТЛАНДЦЕМЕНТ КАЧЕСТВО ПРОДУКЦИИ ОТБОР ПРОБ ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Доп.точки доступа: Егоров, Георгий Борисович (цементное производство); Волконский, Борис Васильевич \.\ Свободных экз. нет |
Чан Бинь Тхан (кандидат технических наук, электроника). Выращивание и свойства монокристаллов тройных соединений MnInsub2/subSsub4/sub, AgInsub5/subSsub8/sub и твердых растворов (MnInsub2/subSsub4/sub)sub1-х/sub(AgInsub5/subSsub8/sub)subх/sub [Text] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Чан Бинь Тхан ; Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники". - Минск : [s. n.], 2019. - 20 с. : ил. - ^aБиблиография: с. 17 (8 назв.). - Б. ц. ; Резюме параллельно на белорусском, русском и английском языках
ВЫРАЩИВАНИЕ КРИСТАЛЛОВ ТРОЙНЫЕ СИСТЕМЫ ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ МАГНИТНЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКИ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Свободных экз. нет |
Поляков, В. Н. Использование рентгеноспектрального микроанализа для определения качества структуры и защитной способности покрытий и материалов газонефтепромыслового оборудования [Text] / В. Н. Поляков. - М. : [s. n.], 1985. - 55 с. - Б. ц.
ЗАЩИТНЫЕ МАТЕРИАЛЫ ЗАЩИТНЫЕ ПОКРЫТИЯ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Свободных экз. нет |
Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов [Text]. - Минск : Наука и техника, 1980. - 189 с. - Б. ц.
МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ Свободных экз. нет |
Богданович, Павел Николаевич (доктор технических наук ; род. 1950). Современные методы анализа материалов [Text] : учебное пособие для студентов учреждений высшего образования по специальности "Оборудование и технологии высокоэффективных методов обработки материалов" / П. Н. Богданович ; Министерство транспорта и коммуникаций Республики Беларусь, Учреждение образования "Белорусский государственный университет транспорта", Кафедра транспортно-технологических машин и оборудования. - Гомель : БелГУТ, 2021. - 144, [1] с. : ил., табл. - ^aБиблиография: с. 140—141 (25 назв.). - ISBN 978-985-891-024-2 (в переплете) : Б. ц.
ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ АТОМНО-ЭМИССИОННЫЙ АНАЛИЗ ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТРЫ СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ПАРАМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩИЕ ТУНЕЛЬНЫЕ МИКРОСКОПЫ БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ ТЕРМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ Свободных экз. нет |