Афанасьев, Александр Михайлович.

    Рентгеновская структурная диагностика в исследование приповерхностных слоев монокристаллов [Text] / А. М. Афанасьева, П. А. Александров, Р. М. Имамов. - Москва : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986. - 95 с. - (Проблемы науки и технологического прогресса). - ^aБиблиогр.: с. 93 (25 назв.). - Б. ц.
УДК
Рубрики: МОНОКРИСТАЛЛЫ
   РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ

   ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ

   РЕНТГЕНОДИАГНОСТИКА

Кл.слова (ненормированные):
0 ; Исследование -- 0 ; приповерхностный слой


Доп.точки доступа:
Александров, Петр Анатольевич; Имамов, Рафик Мамедович
Свободных экз. нет