Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Text] : перевод с английского / под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, печ. 2012 (макет 2013). - 582 с. : ил. - ^aБиблиография в конце глав. - ^aПредметный указатель: с. 574—582. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в переплете) : Б. ц.
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОМАТЕРИАЛЫ РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОТЕХНОЛОГИИ Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \.\; Уанг, Жонг Лин \.\ Свободных экз. нет |
^a81.09^2rugasnti Nanocharacterisation [Text] / edited by Angus I. Kirklanf and Sarah J. Haigh. - 2nd ed. - Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2015. - XVI, 358 p. : fig. ; 25 см. - (RSC nanoscience & nanotechnology ; nr 37). - ^aБиблиогр. в конце ст. - ^aInd.: p. 351-358. - ISBN 978-1-84973-805-7 : Б. ц.
Рубрики: НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРЫ СВОЙСТВА МАТЕРИАЛОВ СТРУКТУРА МАТЕРИАЛОВ МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ТУННЕЛЬНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ Кл.слова (ненормированные): 0 ; спектроскопия характеристических потерь энергии электронами -- 0 ; электронная томография Доп.точки доступа: Kirkland, Angus I. \.\; Haigh, Sarah J. \.\ Свободных экз. нет |
Суворов, Эрнест Витальевич (доктор физико-математических наук). Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Text] : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов. - 2-е изд., переработанное и дополненное. - Москва : Юрайт, 2018. - 179, [1] с. : ил. - (Бакалавр. Академический курс) (УМО ВО рекомендует). - ^aБиблиография: с. 149—151 и в конце глав. - ISBN 978-5-534-06011-9 (в переплете) : Б. ц.
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ ДИФРАКЦИЯ ВОЛН ПЕРИОДИЧЕСКИЕ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Свободных экз. нет |
Поленов, Юрий Владимирович (доктор химических наук). Наноматериалы и нанотехнологии [Text] : учебник / Ю. В. Поленов, Е. В. Егорова. - Санкт-Петербург [и др.] : Лань, 2020. - 179 с. : ил. - (Среднее профессиональное образование). - ^aБиблиография: с. 173—176. - ISBN 978-5-8114-5758-8 (в переплете) : Б. ц.
НАНОТЕХНОЛОГИИ НАНОЧАСТИЦЫ НАНОСТРУКТУРЫ НАНОКЛАСТЕРЫ НАНОСИСТЕМЫ ФУЛЛЕРЕНЫ МИКРОЭМУЛЬСИИ ОДНОМЕРНЫЕ СИСТЕМЫ ПОРИСТЫЕ МАТЕРИАЛЫ НАНОТРУБКИ ДВУМЕРНЫЕ СИСТЕМЫ НАНОПЛЕНКИ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Доп.точки доступа: Егорова, Елена Владимировна (кандидат химических наук) Свободных экз. нет |