Солдатенко, Г. А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах [Text] : препринт / Г. А. Солдатенко. - Киев, 1991. - 28 с. : ил. - (Препринт ; КИЯИ-91-5). - Б. ц. Перевод заглавия: ^aElectron microscope lens with permanent magnets: Preprint Содержание: Перевод заглавия: ^aElectron microscope lens with permanent magnets: Preprint
Свободных экз. нет |
Прохоров, А. М. Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света [Text] : препринт / Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др. - М., 2001. - 15 с. : ил. - (Препринт / Институт общей физики (Москва) ; 7(2001)). - ^aБиблиогр.: с. 15(12 назв.). - Б. ц.
Доп.точки доступа: Зуева, Г.Я.; Сережкина, Н.В. Свободных экз. нет |
Бахтизин, Р. З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии [Text] : учеб. пособие / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов. - Уфа : РИО БашГУ, 2003. - 82 с. - ^aБиблиогр.: с. 81-82. - ISBN 5-7477-0863-5 : Б. ц.
Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р. Свободных экз. нет |
Bierwolf, R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie [Text] : diss / R. Bierwolf. - Stuttgart : [s. n.], 1995. - 140 S. : Ill. - ^aБиблиогр.:с.133-138. - Б. ц.
Свободных экз. нет |
Koltun, R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala [Text] : diss. / R. Koltun. - Aachen : [s. n.], 1995. - 120 S. : Ill. - ^aБиблиогр.:с.113-116. - Б. ц.
<Магнитные> <измерения> Свободных экз. нет |
Kaltenbrunner, K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops [Text] : diss. / K. Kaltenbrunner. - Kon : [s. n.], 1994. - 125 S. : Ill. - ^aБиблиогр.:с.123-125. - Б. ц.
Свободных экз. нет |
Kaczmarek, D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych [Text] : сборник научных трудов / D. Kaczmarek. - Wroclaw : [s. n.], 1999. - 110 s. : il. - ^aБиблиогр.:с.101-110. - ISBN 83-7085-410-9 : Б. ц.
Свободных экз. нет |
Khursheed, A. Scanning electron microscope optics and spectrometers [Text] : монография / A. Khursheed. - Singapore [etc.] : World sci., 2011. - XIII, 402 p. : ill. - ^aБиблиогр.: с. 385-398. Указ.: с. 399-402. - ISBN 978-981-283-667-0 : р4497.79 р.
Спектрометры Свободных экз. нет |
Васичев, Б. Н. Инновационное развитие электронной техники [Text] : учеб. пособие : в 2-х ч. / Б. Н. Васичев, И. Н. Савченкова. - М. : РЭУ им. Г. В. Плеханова, 2013. - 60 с. : ил. - ^aБиблиогр.: с. 59-60. - ISBN 978-5-7307-0910-2 : Б. ц.
Свободных экз. нет |