Петренко, Альбина Зинуровна.     Программное обеспечение для вторично-ионной масс-спектрометрии. Пакет "SIMS" версия 2.01 для ионного микрозонда MIQ-156 [Text] / А. З. Петренко, И. П. Петренко. - Новосибирск : [s. n.], 1990. - 27, [1] с. : ил. - (Препринт / Академия наук СССР, Сибирское отделение, СКТБ специальной электроники и аналитического приборостроения, Технический центр института физики полупроводников ; 2-90). - ^aБиблиография: с. 18 (4 назв.). - Б. ц. ГРНТИ ^a50.41^96 УДК ^a519.688:538.971^v3^zrus ^a621.384.668.8^v3^zrus Рубрики: МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ    ПАКЕТЫ ПРИКЛАДНЫХ ПРОГРАММ    ОБРАБОТКА СИГНАЛОВ    МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ    ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ Доп.точки доступа: Петренко, Игорь Петрович Свободных экз. нет

Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии [Text] : по данным отечеств. и зарубеж. печати за 1970-1987 гг. / С. С. Волков, А. Б. Толстогузов. - М. : [s. n.], 1988. - 48 с. - Б. ц. УДК ^a621.315.592:543.51(048.8)^v3^zrus Рубрики: ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ    АНАЛИЗ    МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ    МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ Доп.точки доступа: Волков, С. С.; Толстогузов, Александр Борисович Свободных экз. нет

Ланин, Е. В.     Исследование особенностей автоматического определения точных масс ионов в масс-спектре высокого разрешения и разработка установки для их измерения [Text] : автореф. дис. ... канд. техн. наук / Е. В. Ланин. - М. : [s. n.], 1979. - 19 с. - Б. ц. УДК ^a621.384.64(043.3)^v3^zrus Рубрики: МАСС-СПЕКТРЫ    ИОНЫ    МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ    МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ Свободных экз. нет

Вторично-ионные масс-спектрометры [Text] : (по данным отечеств. и зарубеж. печати за 1970-1986 гг.) / С. С. Волков [и др.]. - М. : [s. n.], 1987. - 61 с. - Б. ц. УДК ^a543.42(048.8)^v3^zrus ^a621.384.8(048.8)^v3^zrus Рубрики: МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ    МАСС-СПЕКТРОМЕТРЫ Доп.точки доступа: Волков, С. С. Свободных экз. нет