Бухштаб, Михаил Александрович. Измерения малых оптических потерь [Text] / М. А. Бухштаб. - Ленинград : Энергоатоиздат, Ленингр. отд-ние, 1988. - 156 с. - ^aБиблиография: с. 148—155 (151 назв.). - ISBN 5-283-04384-3 : Б. ц.
ВОЛОКОННЫЕ СВЕТОВОДЫ ФОТОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ Кл.слова (ненормированные): 0 ; Измерения -- 0 ; оптические потери Свободных экз. нет |
Трапашко, Георгий Алексеевич. Методы оптико-электронной регистрации критических размеров субмикронных планарных структур изделий микроэлектроники [Text] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Трапашко Георгий Алексеевич ; Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники". - Минск : [s. n.], 2014. - 21 с. : ил., табл. - ^aБиблиография: с. 17—18 (16 назв.). - Б. ц. ; Резюме на белорусском, русском и английском языках
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА ПЛАНАРНЫЕ СТРУКТУРЫ ФОТОШАБЛОНЫ ФОТОЛИТОГРАФИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПЛАСТИНЫ ФОТОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ СУБМИКРОННЫЕ СТРУКТУРЫ АВТОРЕФЕРАТЫ Свободных экз. нет |
Методы анализа лакокрасочных материалов [Text] / [С. Т. Байбаева и др.]. - Москва : Химия, 1974. - 467, [1] с. : ил., табл. - ^aБиблиография в конце глав. - Б. ц.
ПЛАСТИФИКАТОРЫ РАСТВОРИТЕЛИ ПЛЕНКООБРАЗУЮЩИЕ ВЕЩЕСТВА КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ ФОТОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ФОТОМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОЛЯРОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ХРОМАТОГРАФИЯ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ ЛАКОКРАСОЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫ Доп.точки доступа: Байбаева, Софья Тимофеевна; Крылова, Лидия Петровна; Миркинд, Леонид Александрович; Навяжская, Эмма Александровна Свободных экз. нет |