Поисковый запрос: <.>U=537.533$<.> |
Общее количество найденных документов : 393
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
| Аверьянов Г. П.
Автоматизация проектирования: компьютерный практикум: учебное пособие для вузов: Ч.1: Решение задач электрофизики в системе MATLAB
Г. П. Аверьянов, В. А. Будкин, В. В. Дмитриева. - Москва: НИЯУ МИФИ. - 2010. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-7262-1189-3
ГРНТИ: 29
УДК: 004.9(075); 537.533.2:004.9(075)
Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
Автор МИФИ
MATLAB
Автоматизация проектирования
Электрофизика
ПСР
Держатели документа:
|
2.
|
Advances in imaging and electron physics: Vol. 163
Ed. P. W. Hawkes. - Amsterdam [etc.]: Academic press: Elsevier. - 2010. - XIV, 228 p.: ill. - На англ.яз. - Нидерланды. - ISBN 978-0-12-381314-5
ГРНТИ: 29.35; 28.23.15
УДК: 004.932(05); 621.38.01(05); 537.533.3(05)
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика
; Обработка изображений
; Физическая электроника
Держатели документа:
|
3.
|
Advances in imaging and electron physics: Vol. 162
Ed. P. W. Hawkes. - Amsterdam [etc.]: Academic press: Elsevier. - 2010. - XIV, 275 p.: ill. - На англ.яз. - Нидерланды. - ISBN 978-0-12-381316-9
ГРНТИ: 29.35; 28.23.15
УДК: 004.932(05); 621.38.01(05); 537.533.3(05)
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика
; Обработка изображений
; Физическая электроника
Держатели документа:
|
4.
| Власов А.И.
Наноинженерия: библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн.: 11: Электронная микроскопия
под ред. В. А. Шахнова. - М.: Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2011. - 167 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-7038-3502-9. - Тираж 500экз.
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
5.
|
Взаимодействие ионов с поверхностью. (ВИП-2005): Материалы 17 Междунар. конф., 25-29 августа 2005 г., Звенигород: Т. 2
Московский авиационный ин-т. - М. - 2005. - 441 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - Текст рус., англ. - ISBN 5-7035-1561-0. - Тираж 400экз.
ГРНТИ: 31.15.35; 29.35.37
УДК: 537.533(063); 539.2:539.16(063)
Предметные рубрики: Ионы--Взаимодействие с веществом
Держатели документа:
МБА/ЭДД
МБА/ЭДД
|
6.
| Агафонов А.В
Физика сильноточных электронных и ионных пучков.: Ч. 1: Физические процессы в сильноточных диодах -Б.м. - 2005. - 88 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация
УДК: 537.533(07); 537.534(07); 621.3.032.269.1(07)
Держатели документа:
МБА/ЭДД
|
7.
|
Research report NIFS-PROC series: Nov. 20-21, 2009, NIFS: 87: Frontiers of particle beam and high energy density plasma science using pulse power technology
Nat. inst. for fusion science. - Nagoya. - 2011. - 103 p.: ill. - На англ.яз. - Япония
ГРНТИ: 29.35.39; 29.27
УДК: 537.533.3(063); 533.9(063)
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика--Съезды и конференции
; Плазма - Съезды и конференции
Держатели документа:
|
8.
| Борисов А.М.
Физические основы ионно-лучевых технологий: учеб. пособие: 1: Ионно-электронная эмиссия
А. М. Борисов, Е. С. Машкова. - М.: Университетская книга. - 2011. - 141 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-91304-196-8. - Тираж 70экз.
ГРНТИ: 29.35.37; 55.20.15
УДК: 537.533; 621.9.048.7
Предметные рубрики: Эмиссия ионная
; Эмиссия электронная
; Электронно-ионная обработка
Держатели документа:
|
9.
|
Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale: Vol. I
ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York [NY]. - 2007. - XX, 565 p.: il. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - ISBN 978-0-387-28667-9
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
10.
|
Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale: Vol. 2
ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York [NY]. - 2007. - XX, p. 561-980: il. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
11.
| Арисова В.Н.
Методы исследования материалов и процессов: учеб. пособие: Ч. 2: Световая и электронная микроскопия
В. Н. Арисова, А. Ф. Трудов. - Волгоград: Политехник. - 2009. - 98 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-9948-0191-8. - Тираж 250экз.
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Электронная микроскопия
Держатели документа:
|
12.
|
Springer series in optical sciences: 99: Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy. Route to femtosecond Angstrom technology
ed. W. T. Rhodes [et al.]. - Berlin [etc.]. - 2005. - XX, 389 p.: ill. - На англ.яз. - Германия. - ISBN 3-540-21446-1
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия туннельная
Перевод заглавия: Моноциклическая фотоника и оптическая сканирующая туннельная микроскопия: путь к фемтосекундной ангстремовой технике.
Держатели документа:
|
13.
|
Applied scanning probe methods: 2: Scanning probe microscopy techniques
ed. B. Bhushan, H. Fuchs. - Berlin [etc.]: Springer. - 2006. - XLIII, 420 p.: ill. -(NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.];ISSN 1434-4904). - На англ.яз. - Германия. - ISBN 3-540-26242-3
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
14.
|
Applied scanning probe methods: 3: Characterization
ed. B. Bhushan, H. Fuchs. - Berlin [etc.]: Springer. - 2006. - XLIII, 378 p.: ill. -(NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.];ISSN 1434-4904). - На англ.яз. - Германия. - ISBN 3-540-26909-6
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
15.
|
Applied scanning probe methods: 4: Industrial applications
ed. B. Bhushan, H. Fuchs. - Berlin [etc.]: Springer. - 2006. - XLIV, 284 p.: ill. -(NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.];ISSN 1434-4904). - На англ.яз. - Германия. - ISBN 3-540-26912-6
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа:
|
16.
|
Advances in imaging and electron physics: Vol. 125
Ed. P.W.Hawkes. - Amsterdam etc.: Acad. press. - 2002. - XII, 426p.: ill. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - ISBN 0-12-014767-X
ГРНТИ: 29.35; 28.23.15
УДК: 004.932(05); 621.38.01(05); 537.533.3(05)
Предметные рубрики: Обработка изображений
; Физическая электроника
; Электронная и ионная оптика
Держатели документа:
|
17.
|
Advances in imaging and electron physics: Vol. 130
Ed. P.W.Hawkes. - Amsterdam etc.: Acad. press. - 2004. - XV, 315p.: ill. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - ISBN 0-12-014772-6
ГРНТИ: 29.35; 28.23.15
УДК: 004.932(05); 621.38.01(05); 537.533.3(05)
Предметные рубрики: Обработка изображений
; Физическая электроника
; Электронная и ионная оптика
Держатели документа:
|
18.
|
Advances in imaging and electron physics: Vol. 131
Ed. P.W.Hawkes. - Amsterdam etc.: Acad. press. - 2004. - XIV, 248p.: ill. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - ISBN 0-12-014773-4
ГРНТИ: 29.35; 28.23.15
УДК: 004.932(05); 621.38.01(05); 537.533.3(05)
Предметные рубрики: Обработка изображений
; Физическая электроника
; Электронная и ионная оптика
Держатели документа:
|
19.
|
Proceedings: Pt.3
Multi-national congress on electron microscopy(1997;Portoroz). - London: Plenum press. - New York. - 1997. - 126 p.: ill. -(Journal of computer-assisted microscopy;ISSN 1040-7286; 1997,Vol.9,N 2). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35(063)
Предметные рубрики: Микроскопия электронная --Съезды и конференции
Держатели документа:
|
20.
|
Физика сильноточных пучков: Учеб. пособие: Ч.3: Применение релятивистских пучков
Василенко О.И. -Б.м. - 1999. - 7 с.,С.279-335: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - Тираж 50 экз.
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533
Предметные рубрики: Сильноточные пучки
Держатели документа:
|
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных