Поисковый запрос: <.>U=537.533$<.> |
Общее количество найденных документов : 393
Показаны документы с 1 по 20 |
|
>1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Хейденрайх Р.
Основы просвечивающей электронной микроскопии Р. Хейденрайх;пер. с англ. - Москва: Мир. - 1966. - 472 с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.35 Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
волны
интерференция
волновая механика
дифракция электронов
Держатели документа:
|
>2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Кельман В.М.
Электронная оптика В. М. Кельман. - Изд. 2-е, доп. - Москва: Наука. - 1968. - 176 с. -(Научно-популярная серия). - На рус.яз. - Российская Федерация УДК: 537.533.3
Держатели документа:
|
>3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Жигарев А. А.
Электронная оптика и электронно-лучевые приборы: учеб. для вузов А. А. Жигарев. - М.: Высш. шк. - 1972. - 538 с. - На рус.яз. - Российская Федерация УДК: 621.385.832(075); 537.533(075) Предметные рубрики: ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫЕ ПРИБОРЫ
; ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА
Держатели документа:
|
>4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Пилянкевич А.Н.
Просвечивающая электронная микроскопия А. Н. Пилянкевич. - Киев: Наукова Думка. - 1975. - 219с. -(Наука и технический прогресс). - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.35 Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
электронные микроскопы
электронография
микродифракционный анализ
электронная микроскопия
рассеяние электронов
Держатели документа:
|
>5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Уикли Б.
Электронная микроскопия для начинающих Б. Уикли;пер. с англ. - Москва: Мир. - 1975. - 324 с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 47 УДК: 621.385.833; 537.533 Предметные рубрики: Электроника
Ключевые слова:
Электронная микроскопия
Биологические материалы
Электронные микроскопы
Держатели документа:
|
>6. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Исследование сенситометрических свойств фотографических эмульсий с учетом возможности управления чувствительностью эмульсии электрическим полем: отчет о НИР по теме №77-3-50 за 2 этап рук. работы : В. И. Калашникова ; исполн. : Б. Д. Лемешко [и др.]. - S.l: МИФИ. - 1977. - 31с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.8(047) Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
автор МИФИ
фотографические эмульсии
фотоэффект
эмульсионные микрокристаллы
электрические поля
Держатели документа:
|
>7. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Практическая растровая электронная микроскопия пер. с англ.;ред.: Дж. Гоулдстейн, Х. Яковиц. - Москва: Мир. - 1978. - 656с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.35; 681.31 Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
Растровая электронная микроскопия
Электронная оптика
Рентгеноспектральные измерения
Кристаллические спектрометры
Ионно-ионный микроанализ
Держатели документа:
|
>8. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Белкинд А.И.
Фотоэлектронная эмиссия из органических тел А. И. Белкинд;Физико-энергетический институт. - Рига: Зинатне. - 1979. - 218с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.2; 535.215; 539.21 Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
фотоэлектронная спектроскопия
молекулярные кристаллы
полупроводники
органические полупроводники
фотоэмиссия
Держатели документа:
|
>9. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Hillebrand R.
Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elekronenmikroskopie: Numerische u. optische Verfahren zur Interpretation elektronenmikroskopischer Hochauflosungs-abbildungen kristalliner Objekte Reinald Hillebrand, Kurt Scheerschmidt, Wolfgang Neumann u. a. - Berlin, DDR: Akademie-Verlag. - 1984. - XIV, 124 S.: ill. -(Beitrage zur Forschungstechnologie;ISSN 0323-5130; Bd.11). - На нем., нем.яз. - Германия ГРНТИ: 29.19 УДК: 537.533.35
Держатели документа:
|
>10. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Дударев С.Л.
Интерференционные явления при когерентном и некогерентном рассеянии заряженных частиц в монокристаллах: препринт 006-84 С. Л. Дударев, М. И. Рязанов. - Москва: МИФИ. - 1984. - 28с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 29 УДК: 537.533.74 Предметные рубрики: Физика
Ключевые слова:
Автор МИФИ
Рассеяния
Монокристаллы
Держатели документа:
|
>11. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Теоретические предпосылки и экспериметальное исследование рекуперации энергии плотных широкоапертурных пусков ионов: промежуточный отчет по теме 85-3-299 рук. работы : С. К. Дмитров ; отв. исполн. : И. В. Визгалов ; исполн. : С. К. Дмитров, А. С. Луцько. - Москва: МИФИ. - 1985. - 35с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 58 УДК: 621.039.5(047); 537.533(047) Предметные рубрики: Ядерная техника
Ключевые слова:
автор МИФИ
прямое преобразование энергии
ионы водорода
первеанс
супрессия электронов
объемный заряд
пролетный рекуператор
эмиссия
плазма
Держатели документа:
|
>12. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Электронная микроскопия и вопросы диагностики: Тез. III Респ. науч.-техн. конф. по электрон. микроскопии (Кишинев, 31 марта - 1 апр. 1986 г.). - Кишинев. - 1986. - 173 с.: .: Молд. респ. правл. НТО радиотехники, электрон. и связи им. А. С. Попова, Секция электрон. микроскопии, АН МССР, Дом техники РСНТО. - На рус.яз. - Российская Федерация. - В надзаг.: Молд. респ. правл. НТО радиотехники, электрон. и связи им. А. С. Попова, Секция электрон. микроскопии, АН МССР, Дом техники РСНТО.-Авт. указ.: с. 166-173 ГРНТИ: 29.31 УДК: 537.533.35(043.2)
Держатели документа:
|
>13. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Bauer H.
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. - Berlin, DDR: Akademie-Verlag. - 1986. - XI, 58 S.: Ill. -(Beitrage zur Forschungstechnologie;ISSN 0323-5130; Bd.13;1986). - На нем., нем.яз. - Германия ГРНТИ: 29.35.43 УДК: 537.533.35
Держатели документа:
|
>14. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Кортов В.С.
Экзоэмиссионный контроль поверхности деталей после обработки В. С. Кортов. - Киев: Наукова думка. - 1986. - 175с. - На рус.яз. - Российская Федерация ГРНТИ: 06 УДК: 537.533.8; 620.17; 621.7 Предметные рубрики: Экономика
Ключевые слова:
Диэлектрики
Экзоэлектронная эмиссия
Деформация металлов
Экзоэмиссионный контроль
Неразрушающий контроль
Детали
Держатели документа:
|
>15. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Комраков Б. М.
Измерение параметров оптических покрытий Б. М. Комраков, Б. А. Шапочкин. - Москва: Машиностроение. - 1986. - 132 с. -(Библиотека приборостроителя). - На рус.яз. - Советский Союз УДК: 537.533.3 Предметные рубрики: ОПТОЭЛЕКТРОНИКА
; МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
; ОПТИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ
Ключевые слова:
Измерение параметров
Держатели документа:
|
>16. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Электронно-оптические системы с сеточным управлением: (по данным отечеств. и зарубеж. печати за 1971-1986 гг.) Ю. А. Григорьев [и др.]. - М. - 1987. - 72 с. - На рус.яз. - Российская Федерация УДК: 621.385.032.26(048.8); 537.533.3(048.8) Предметные рубрики: СЕТОЧНЫЕ МЕТОДЫ
; ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
; ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ
Держатели документа:
|
>17. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| European congress on electron microscopy(York;9;1988). .
Proceedings of the 9th European congress on electron microscopy, York, 4-9 Sept. 1988/EUREM 88: Vol.2: Physics and materials Ed.: P.J.Goodhew, H.C.Dickinson. - Bristol: Inst. of physics. - Philadelphia (Pa). - 1988. - XXX, 582 с: ил. -(Conf. ser./Inst. of physics; N 93). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - Библиогр. в конце ст.-Указ.: с.565-582. - ISBN 0-85498-185-3 ГРНТИ: 29.35.43; 59.45.37 УДК: 537.533
Перевод заглавия: Труды 9-го Европ. конгр. по электронной микроскопии, Йорк, 1988.Физика и материалы Ключевые слова:
электронная микроскопия; физика; материалы
Держатели документа:
|
>18. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| European congress on electron microscopy(York;9;1988). .
Proceedings of the 9th European congress on electron microscopy, York, 4-9 Sept. 1988/EUREM 88: Vol.3: Biology Ed.: P.J.Goodhew, H.C.Dickinson. - Bristol: Inst. of physics. - Philadelphia (Pa). - 1988. - XXXII, 616 с: ил. -(Conf. ser./Inst. of physics; N 93). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - Библиогр. в конце ст.-Указ.: с.599-616. - ISBN 0-85498-186-1 ГРНТИ: 29.35.43; 59.45.37 УДК: 537.533
Перевод заглавия: Труды 9-го Европ. конгр. по электронной микроскопии, Йорк, 1988.Биология Ключевые слова:
электронная микроскопия; биология
Держатели документа:
|
>19. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Szilagyi M.
Electron and ion optics. - New York: Plenum press. - London. - 1988. - XVI, 539 с: ил. - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - Библиогр.: с. 515-528.-Указ.: с. 529-539. - ISBN 0-306-42717-6 ГРНТИ: 29.31.17 УДК: 537.533.3
Перевод заглавия: Электронная и ионная оптика Ключевые слова:
электронная; ионная; оптика
Держатели документа:
|
>20. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| European congress on electron microscopy(York;9;1988). .
Proceedings of the 9th European congress on electron microscopy, York, 4-9 Sept. 1988/EUREM 88: Vol.1: Tutorials, instrumentation and techniques Ed.: P.J.Goodhew, H.C.Dickinson. - Bristol: Inst. of physics. - Philadelphia (Pa). - 1988. - XVIII, 302 с: ил. -(Conf. ser./Inst. of physics; N 93). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки. - Библиогр. в конце ст.-Указ.: с.285-302. - ISBN 0-85498-184-5 ГРНТИ: 29.35.43; 59.45.37 УДК: 537.533
Перевод заглавия: Труды 9-го Европ. конгр. по электронной микроскопии, Йорк, 1988.Руководство,приборно-измерительное оборудование и методы Ключевые слова:
электронная микроскопия; приборно - измерительное оборудование
Держатели документа:
|
|
|
|