Поисковый запрос: <.>U=537.533$<.> |
Общее количество найденных документов : 393
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
| International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques. (1996).
Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques. - New York. - 1996. - 585-1576 p. -(Journal of vacuum science & technology B;ISSN 0734-211X; Vol.14,N 2,1996). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки
ГРНТИ: 29.31.26; 29.35.43
УДК: 539.2.01(063); 537.533.35(063)
Предметные рубрики: Туннельная спектроскопия --Съезды и конференции
; Микроскопия туннельная --Съезды и конференции
Держатели документа:
|
2.
| International conference on electron, ion, and photon beam technology and nanofabrication. (39; 1995).
Papers from the 39th International conference on electron, ion and photon beam technology and nanofabrication. - Woodbury(NY). - 1995. - A22,2153-3235 p. -(Journal of vacuum science & technology B;ISSN 0734-211X; Vol.13,N 6,1995). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки
ГРНТИ: 55.20.15; 47.13.11
УДК: 537.533.3(063); 621.9.048.7(063); 621.3.049.76.002(063)
Предметные рубрики: Электронные пучки --Съезды и конференции
; Электронно-ионная обработка --Съезды и конференции
; Микроэлектронные приборы --Производство
Держатели документа:
|
3.
| Reckenfelderbamer R.
Entwicklung des Caiumstrahlteils einer Quelle polarisierter Ionen nach dem Colliding-Beams-Prinzip: Diss. - Kon. - 1995. - 154 S.: Ill. - На нем.яз. - Германия
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2(043)
Предметные рубрики: Ионные источники (физ.)
Держатели документа:
|
4.
| Suzuki K.
High resolution electron microscopy of dissociated dislocations in silicon with normal-incident electron-beam
Maeda N., Takeuchi S. - Tokyo: Inst.for solid state physics, Univ.of Tokyo. - 1995. - 20 c: ил. -(Techn.rep.of ISSP.Ser.A;ISSN 0082-4798; N 2992). - На англ.яз. - Япония. - Библиогр.:с.8
ГРНТИ: 29.19.11; 29.35.43
УДК: 537.533+538.911
Перевод заглавия: Электронная микроскопия высокого разрешения диссоциированных дислокаций кремния с нормальным падением электронного пучка
Ключевые слова:
электронная микроскопия
Держатели документа:
|
5.
|
Forces in scanning probe methods: Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994
Ed:H.-J.Gutherodt et al. - Dordrecht et al: Kluwer. - 1995. - XIII,644 p.: ill. -(NATO advanced study institutes series. Ser.E, Applied sciences; Vol.286). - На англ.яз. - Нидерланды. - ISBN 0-7923-3406-X
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35(063); 681.723(063)
Предметные рубрики: Микроскопия --Съезды и конференции
Держатели документа:
|
6.
| Conte M.
Beam optics of the Dirac particle with anomalous magnetic moment
Jagannathan R., Khan S.A. - Roma. - 1996. - 28 p.: ill. -([Pubblicazione] INFN
Istituto nazionale di fisica nucleare(Roma); AE-96/08). - На англ.яз. - Италия
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533.3
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика
Держатели документа:
|
7.
| Takeiri Y.
Long-pulse operation of a cesium-seeded high-current large negative ion source
Osakabe M., Oka Y. - Nagoya. - 1997. - 12 p.: /6/ l.ill. -(Research report NIFS series
National institute for fusion science(Nagoya);ISSN 0915-633X; 476). - На англ.яз. - Япония
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2
Предметные рубрики: Ионные источники
Держатели документа:
|
8.
| Takeiri Y.
Suppression of accelerated electrons in a high-current large negative ion source
Oka Y., Osakabe M. - Nagoya. - 1996. - 15 p.: /6/ l.ill. -(Research report NIFS series
National institute for fusion science(Nagoya);ISSN 0915-633X; 467). - На англ.яз. - Япония
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2
Предметные рубрики: Ионные источники
Держатели документа:
|
9.
|
Proceedings of the international conference on ion sources: Bensheim, 30 Sept.-4 Oct.1991.Ксерокопия в 2х кор.
ICIS'91;Ed.:B.H.Wolf. - New York: Amer.inst.of physics. - 1992. - XXII,2351-2912 p.: ill. -(Review of scientific instruments; 1992,Vol.63,N4,Pt.2). - На англ.яз. - Соединенные Штаты Америки
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2(063)
Предметные рубрики: Ионные источники --Съезды и конференции
Держатели документа:
|
10.
|
Scanning tunneling microscopy: Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy, Kanazawa, Dec.7-9, 1995
Ed.: S.Hosoki et al. - Tokyo. - 1996. - 3695-3797 p.: ill. -(Japanese journal of applied physics. Pt.1;ISSN 0021-4922; Vol.35,N 6B,1996). - На англ.яз. - Япония
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35(063)
Предметные рубрики: Микроскопия туннельная --Съезды и конференции
Держатели документа:
|
11.
| Bai Chunli
Scanning tunneling microscopy and its application: Rev. transl. of the orig. Chin. ed. - Berlin: Springer. - 1995. - XII, 331: ил. -(Springer ser. in surface sciences; 32). - На нем.яз. - Германия. - Пер. изд. : Saomiao suidao xianweishu ji qi yingyong. Shanghai, 1992. Указ. : Subject ind. : c. 327-331. - ISBN 3-540-59346-2
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Перевод заглавия: Растровая туннельная микроскопия и ее применение
Держатели документа:
|
12.
| Czarczynski W.
Cieklometaliczne zrodla jonow. - Wroclaw. - 1995. - 94 s.: il. - На польск.яз. - Польша. - ISBN 83-7085-131-2
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2
Предметные рубрики: Ионные источники (физ.)
Держатели документа:
|
13.
| Bluhm H.
Die Erzeugung gepulster Megaampere-Ionenstrome fur die Materie- und Tragheitsfusionsforschung. - Karlsruhe. - 1995. - 337 S.: Ill. -(Wissenschaftliche Berichte
Forschungszentrum(Karlsruhe);ISSN 0947-8620; 5528). - На нем.яз. - Германия
ГРНТИ: 29.35.37; 58.34
УДК: 537.533.2; 621.039.6
Предметные рубрики: Ионные источники (физ.)
; Управляемый термоядерный синтез
Держатели документа:
|
14.
|
Scanning tunneling microscopy
Ed.by A.Kawazu et al. - Tokyo: Publ.office. - 1994. - 3657-3790 c: ил. -(Jap.j.of appl.physics.Pt.1,Regulator papers,short notes a.rev.opapers;ISSN 0021-4922; Vol.33,N 6B,spec.iss.). - На англ.яз. - Япония. - Библиогр.в конце докл.-Указ.:с.3791-3801
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Перевод заглавия: Растровая туннельная микроскопия
Ключевые слова:
микроскопия
Держатели документа:
|
15.
| Laqua H.P.
Das Nicht-Gleichgewichts-Plasma einer Oberflachenentladung auf einem Metallhydridfilm als Ionenquelle: Diss. - Karlsruhe. - 1994. - 133 S.: Ill. -(Berichte KFK;ISSN 03034003;5286). - На нем.яз. - Германия. - Рез.англ.Библиогр.:с.129-133
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2(043)
Предметные рубрики: Ионные источники (физ.)
Держатели документа:
|
16.
|
High-voltage and high-resolution electron microscopy: Sel.papers from the intern.workshop a...,Stuttgart,21-24 Febr.1994
Ed.:M.Ruhle et al. - Amsterdam etc.: Elsevier. - 1994. - XIV,252 c: ил. -(Ultramicroscopy;ISSN 0304-3991; Vol.56,N1-3). - На англ.яз. - Нидерланды. - Библиогр.в конце докл
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533
Перевод заглавия: Электронная микроскопия при высоком напряжении и с высоким разрешением:междунар.семинар,Штуттгарт,1994
Ключевые слова:
электронная микроскопия
Держатели документа:
|
17.
| Okayama Sh.
A study on electrostatic quadropole lenses and theor application tehnologies. - Tsukuba. - 1993. - 1568 c: ил. -(Researches of the Electrotechn.lab.;ISSN 0366-9106; N 948). - На англ.яз. - Япония. - Текст яп.-Рез.англ.-Библиогр.в конце гл и с.152-156
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533
Перевод заглавия: Исследование электростатических квадрупольных линз и методы их применения
Ключевые слова:
электростатические квадрупольные линзы
Держатели документа:
|
18.
| Volcker M.
Rastertunnelmikroskopie mit Einstrahlung von Laserlicht. - Garching. - 1992. - X,121 c: ил. -(Max-Planck-Inst.fur Quantenoptik; MPQ 165). - На нем.яз. - Германия. - Рез.англ.,нем.-Библиогр.:с.113-119
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533
Перевод заглавия: Растровая туннельная микроскопия с использованием лазерного облучения
Ключевые слова:
лазерная микроскопия
Держатели документа:
|
19.
|
Scanning tunneling microscopy
Ed.by K.Akira et al. - Tokyo: Publ.office Jap.j.of appl.physics. - 1995. - 3309-3411 c: ил. -(Jap.j.of appl.physics.Pt.1,Regular papers, short note and rev.papers;ISSN 0021-4922; Vol.34,N 6B, spec.iss.). - На англ.яз. - Япония. - Библиогр.в конце докл.-Указ.:с.3413-3422
ГРНТИ: 29.35.43; 29.03.31
УДК: 537.533+53.085
Перевод заглавия: Растовая туннельная микроскопия
Ключевые слова:
микроскопия
Держатели документа:
|
20.
|
Microscopy with field emission electron sources: Sel.papers from a Winter workshop, Scottslade, Ariz.,USA,5-8 Jan.1994
Guest ed.:Smith D.J. - Amsterdam etc: Elsevier. - 1995. - 121 c: ил. -(Ultramicroscopy;ISSN 0304-3991; Vol.58, N 1). - На англ.яз. - Нидерланды. - Библиогр.в конце докл
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533
Перевод заглавия: Микроскопия с применением автоэмиссионных источников электронов.Избр.статьи зимнего семинара.Скотсдейл,1994
Ключевые слова:
автоэмиссионные источники электронов
Держатели документа:
|
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных