Главная страница

Базы данных


Российский сводный каталог по научно-технической литературе - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>U=537.533$<.>
Общее количество найденных документов : 393
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60      
1.

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: перевод с английского
под редакцией Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга. - Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний. - печ. 2012 (макет 2013). - 582 с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-9963-1110-1
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.35; 620.3
Предметные рубрики: РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ; ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ; РАСТРОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ; НАНОМАТЕРИАЛЫ ; РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ ; НАНОТЕХНОЛОГИИ

Держатели документа:
2.
Reimer L.
Scanning electron microscopy. Physics of image formation and microanalysis. - Berlin: Akad.-Verl. - Б.г. - 15,457 с: рис). - На англ.яз. - Германия. - Библиогр.: с. 405-446.-Указ.: с. 447-457. - ISBN 3-540-13530-8
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Перевод заглавия: Электронная микроскопия со сканированием
Ключевые слова: электронная микроскопия; сканирование

Держатели документа:
3.
Olsen A.
CTF. BAS Ver 1.1: A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function
Skjerpe P. -Б.м. - Б.г. - 6 с: ил. -(Report series
Inst. of physics;ISSN 03325571;N89-25). - На англ.яз. - Норвегия. - В надзаг.: Univ. of Oslo
ГРНТИ: 29.35.43; 50.41.25
УДК: 537.533:681.3
Перевод заглавия: CTF BAS Ver 1.1 Basic-программа для компьютера, совместимого с IBM PC, для вычерчивания контрастной передаточной функции объекта со слабой фазой
Ключевые слова: BASIC; IBM PC

Держатели документа:
4.
Goodhew Peter J.
Electron microscopy and analysis
Goodhew Peter J., Humphreys John, Beanland Richard. - 3d ed -Б.м. - Б.г. - X, 251 с.: ил., табл. - Указ. : с. 243-251. - ISBN 0-7484-0968-8
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 620.187; 543.427.34; 537.533.35
Перевод заглавия: Электронная микроскопия и анализ.

Держатели документа:
5.

Scanning probe microscopy and spectroscopy: Theory, techniques, a. applications
Ed. by Bonnell Dawn A. - 2d ed -Б.м. - Б.г. - XIV, 493 c.: ил., табл. - Указ. : с. 487-493. - ISBN 0-471-24824-X
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 620.187; 537.533.35
Перевод заглавия: Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия: Теория, методы и применение.

Держатели документа:
6.

Transmission electron energy loss spectrometry in materials science and the EELS atlas
Ed. by Ahn C.C. - 2d ed. - Weinheim: Wiley-VCH. - Cop. 2004. - XIII, 457 c.: ил., табл. - На нем.яз. - Германия. - ISBN 3-527-40565-8
ГРНТИ: 29.35.43; 29.31.26
УДК: 537.533.35; 535.33:539.124
Перевод заглавия: Трансмиссионная спектрометрия характеристических потерь энергии электронов в материалах: Наука и СХПЭЭ-атлас.

Держатели документа:
МБА/ЭДД
7.
Галлямов М.О.
Методы оптической и электронной микроскопии: материалы к курсу
М. О. Галлямов;Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова. - Москва: Физ. факультет МГУ им. М. В. Ломоносова. - 2023. - 259с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-8279-0254-6. - Тираж 100экз.
ГРНТИ: 29.31.29; 29.35.43
УДК: 681.723; 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия ; Микроскопия электронная
Ключевые слова: микроскопия фазового контраста микроскопия темного поля поляризационная микроскопия микроскопия дифференциально-интерференционного контраста микроскопия модуляционного контраста флуоресцентная микроскопия конфокальная лазерная сканирующая микроскопия сканирующая электронная микроскопия просвечивающая электронная микроскопия сканирующая просвечивающая электронная микроскопия
Аннотация: Настоящий учебник будет полезен всем интересующимся современными методами исследования материалов с помощью как оптической, так и электронной микроскопии. Рассматриваются принципы устройства микроскопов, формирования в них изображений, характер получаемой информации, основные режимы работы, достижимое пространственное разрешение, дополнительные аналитические возможности, лимитирующие факторы, способы их преодоления, требования к подготовке образцов для исследований. Большая часть представленных и обсуждаемых экспериментальных изображений посвящена полимерным объектам синтетического или природного происхождения, однако наиболее типичные примеры исследования иных структур также приведены (в том числе наноматериалов). Особое внимание уделено недавним перспективным разработкам методов микроскопии, открывшим исследователям принципиально новые возможности. Основная цель издания состоит в том, чтобы помочь студентам старших курсов и аспирантам физического и других естественнонаучных факультетов ВУЗов в освоении программ курсов по методам микроскопии.

Держатели документа:
8.
Бурцев В.
Экспериментальная электрофизика: в двух книгах: Кн. 2: Пучковые и лазерные системы
В. А. Бурцев. - Санкт-Петербург: КОСТА. - 2023. - 342, [1]с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-91258-486-2. - Тираж 300экз.
ГРНТИ: 29.35.39; 58.34; 47.35.31
УДК: 537.533.3; 621.039.6; 621.373.826.038.823
Предметные рубрики: Электронные пучки ; Термоядерные установки ; Лазеры газовые
Ключевые слова: ускорители заряженных частиц широкоапертурные электронные источники электронные пучки эксперименты с многопроволочными лайнерами лазерные термоядерные установки инерциальный лазерный термоядерный синтез крупноапертурные газовые лазеры компактные газовые лазеры лазерное излучение
Аннотация: Вторая книга "Экспериментальная электрофизика. Пучковые и лазерные системы" посвящена вопросам разработки и исследования пучковых, обычно электронных ускорителей, начиная со стационарных систем, применяемых в физической электронике, затем импульсных широкоформатных электронных ускорителей милли-микро-наносекундной длительности импульсов для газовой лазерной техники, потом сильноточных электронных ускорителей для сильноточной электроники в рамках термоядерной программы "Ангара-5". Лазерные системы начинались с фотодиссоционного йодного лазера "Гном-М", потом пионерского СО, лазера "Старт", системы ТИР-2 для термоядерного синтеза с инерциальным удержанием плазмы, ТИР-2М для УТС с магнитным удержанием ТИР-2М. Большое внимание было уделено эксимерным модульным лазерам типа "Лира", способным работать длительное время с частотой повторения импульсов до 10 Гц.

Держатели документа:
9.
Сыровой В.А.
Аналитическое и численное моделирование интенсивных пучков заряженных частиц
В. А. Сыровой, В. М. Свешников, А. Н. Козырев ; ответственный редактор В. М. Свешников;Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт вычислительной математики и математической геофизики [и др.]. - Новосибирск: Сибирское отделение РАН. - 2023. - 315с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-6048597-5-9. - Тираж 300экз.
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533.3
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика
Ключевые слова: уравнение пучка векторная форма уравнение пучка тензорная форма ортогональные координаты формирующие электроды трубчатые релятивистские пучки узкие электростатические пучки
Аннотация: Книга представляет первый как в отечественной, так и в зарубежной литературе пример конструктивного взаимодействия теории с ее приближенными подходами и численных методов расчета интенсивных заряженных потоков. Изложены классические модели узких релятивистских пучков и новые модели, основанные на геометризованной теории. Сформулированы основные подходы к расчету формирующих электродов, основанные на методе Римана для уравнений эллиптического типа. Отмечена принципиальная важность тестирования численных моделей на наборе эталонных точных решений.

Держатели документа:
10.

Современные методы электронной микроскопии: учебно-методическое пособие
Миронов Сергей Юрьевич, Жеребцов Сергей Валерьевич, Беляков Андрей Николаевич, Дудко Валерий Александрович;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Белгородский государственный национальный исследовательский университет. - Белгород: БелГУ. - 2023. - 89с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-9571-3506-7. - Тираж 100экз.
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Ключевые слова: просвечивающая электронная микроскопия растровая электронная микроскопия система линз система детекторов дифракция электронов
Аннотация: В учебно-методическом пособии наряду с кратким изложением теории, приведено детальное описание практических методов и приемов работы, используемых в современной электронной микроскопии. Особое внимание уделено методам индицирования линий Кикучи, анализу внутренних напряжений и разориентировок кристаллитов в металлических материалах. Рассмотренные вопросы являются ключами для выполнения лабораторных и практических работ студентов, а также могут быть полезны научным работникам в области материаловедения и физики металлов. Для студентов направлений подготовки "Материаловедение и технологии материалов" и "Наноматериалы", а также других направлений подготовки (специальностей), изучающих самый широкий спектр вопросов, связанных с получением и обработкой материалов.

Держатели документа:
11.
Международная Тулиновская конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами. ((52:; 2023:; Москва)).
Тезисы докладов 52-й Международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва, 30 мая - 1 июня 2023)
Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д. В. Скобельцына;под общей редакцией: Н. Г. Чеченина. - Москва: КДУ. - 2023. - 204с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - На тит. листе: МГУ-270, 1755-2025.Текст рус., англ. - ISBN 978-5-7913-1308-9. - Тираж 110экз.
ГРНТИ: 29.19.21; 31.15.35; 29.35.37
УДК: 539.2:539.16(062); 539.211(062); 537.533(062)
Предметные рубрики: Твердые тела--Влияние ионизирующих излучений ; Твердые тела--Поверхностные явления ; Эмиссия ионная--Съезды и конференции
Ключевые слова: каналирование положительно заряженные частицы эмиссия вторичных частиц динамика электронов ионно-фотонная эмиссия переходное рентгеновское излучение
Аннотация: Сборник содержит тезисы докладов, отобранные оргкомитетом для представления на 52-й Международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва, 30 мая-1 июня 2023). Конференция проведена при поддержке гранта Министерства науки и высшего образования Российской Федерации.

Держатели документа:
12.

Физические основы растровой электронной микроскопии
Т. Т. Магкоев, И. В. Силаев, И. В. Тваури [и др.] ; научный редактор В. В. Казьмирук;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Северо-Осетинский государственный университет имени Коста Левановича Хетагурова. - Владикавказ: СОГУ. - 2022. - 186с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-00081-489-5. - Тираж 500экз.
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.35
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Ключевые слова: растровые электронные микроскопы принцип работы электронная оптика электронные пушки детекторы
Аннотация: В книге даны краткие сведения об основах растровой электронной микроскопии, обеспечивающие формирование у студентов комплекса знаний, умений, навыков и компетенций в таких областях, как вакуумная техника, физические основы функционирования элементов магнитной оптики, природы вторичных сигналов, эмитируемых под действием электронной бомбардировки, принципы детектирования вторичных сигналов и конструкции соответствующих детекторов. Книга может быть использована для подготовки специалистов по инженерным направлениям в области естественных наук. Работа выполнена с использованием оборудования центра коллективного пользования ЦКП Северо-Осетинского государственного университета "Физика и технологии наноструктур" на кафедрах физики конденсированного состояния, физики и астрономии и лаборатории физики адсорбционных явлений СОГУ в рамках госзадания.

Держатели документа:
13.
Метель А. С.
Тлеющий разряд в устройствах с электростатическими ловушками: монография
А. С. Метель, С. Н. Григорьев. - Москва: Курс. - 2022. - 155, [2] с.: ил. -(Наука). - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-906923-03-5
ГРНТИ: 55.20.15; 55.22; 29.27.43; 29.27.51
УДК: 621.793.18; 621.384.5.032.267; 533.9.03-112; 537.533.2
Предметные рубрики: ИНЖЕНЕРИЯ ПОВЕРХНОСТИ ; МОДИФИЦИРОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТЕЙ ; ПОВЕРХНОСТНАЯ ОБРАБОТКА ; ИОННО-ПЛАЗМЕННАЯ ОБРАБОТКА ; НАНЕСЕНИЕ ПОКРЫТИЙ ; ВАКУУМНО-ПЛАЗМЕННЫЕ ПОКРЫТИЯ ; ТЛЕЮЩИЕ РАЗРЯДЫ ; ПОЛЫЕ КАТОДЫ ; КАТОДНОЕ РАСПЫЛЕНИЕ ; ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; ЭЛЕКТРОННАЯ ПЛАЗМА ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛОВУШКИ ; ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОЕ ПОЛЕ ; ВАКУУМНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

Держатели документа:
14.
Мамедов Н.В.
Физические основы генерации ионных пучков в плазменных источниках нейтронных трубок: учебное пособие в рамках единого курса лекций "Основы физики электрических разрядов и их применение в нейтронных трубках" : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению "Ядерная физика и технологии"
Н. В. Мамедов. - Москва: Буки Веди. - 2021. - 387с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-4465-3275-9. - Тираж 50экз.
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533.2
Предметные рубрики: Ионные источники
Ключевые слова: электронная эмиссия газовые разряды тлеющий разряд дуговой разряд плазменные источники ионов
Аннотация: Учебное пособие содержит материалы лекций "Физические основы генерации ионных пучков в плазменных источниках нейтронных трубок" в рамках читаемой автором части курса "Основы физики электрических разрядов и их применение". В процессе изучения материала, представленного в данном пособии, студенты знакомятся с основными понятиями в области создания и применения пучков заряженных частиц как в качестве объектов исследования, так и для использования их в составе различных ускорительных устройств. Особое внимание уделяется вопросам, связанным с работой ионных источников газонаполненных и вакуумных нейтронных трубок.

Держатели документа:
15.
Семенова О.Р.
Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия: учебное пособие
О. Р. Семенова;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Пермский государственный национальный исследовательский университет. - Пермь: ПГНИУ. - 2021. - 131с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-7944-3637-2. - Тираж 100экз.
ГРНТИ: 29.35.43
УДК: 537.533.3
Предметные рубрики: Микроскопия электронная
Ключевые слова: излучение взаимодействие с веществом формирование изображения просвечивающие электронные микроскопы диафрагмы контраст изображения ход лучей
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, происходящие при взаимодействии пучка ускоренных электронов с твердым телом и заложенные в основу работы просвечивающего и сканирующего (растрового) электронных микроскопов. Дано описание устройства электронных микроскопов. Описана природа формирования различных типов контраста при формировании изображения изучаемого объекта. Приведены примеры применения электронных микроскопов. Выявлены их общие черты и принципиальные различия.

Держатели документа:
16.
Арисова В.Н.
Рентгенография и электронная микроскопия: учебно-методическое пособие
В. Н. Арисова, О. В. Слаутин, А. И. Богданов;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Волгоградский государственный технический университет. - Волгоград: ВолгГТУ. - 2021. - 100, [3]с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-9948-4015-3. - Тираж 50экз.
ГРНТИ: 81.09.81; 29.35.43
УДК: 620.179.152.1(076.5); 537.533.35(076.5)
Предметные рубрики: Рентгенография--Учебники и пособия ; Микроскопия электронная--Учебники и пособия
Ключевые слова: рентгеновские трубки рентгеновские камеры рентгенограммы количественный фазовый рентгеноструктурный анализ исследование материалов лабораторные работы
Аннотация: Представлен теоретический и практический материал для выполнения лабораторных работ по дисциплине "Рентгенография и электронная микроскопия". Предназначено для студентов направления 22.03.02. "Металлургия".

Держатели документа:
17.
Строкин Н. А.
Электроны и ионы в электронике: учебное пособие
Н. А. Строкин;Министерство науки и высшего образования РФ, Иркутский национальный исследовательский технический университет. - Иркутск: Издательство Иркутского национального исследовательского технического университета. - 2021. - 184 с.: ил., табл. - На рус.яз. - Российская Федерация
ГРНТИ: 29.35.37; 29.35.43; 29.35.45; 47.29; 47.03.03; 47.01.33; 29.01.33
УДК: 621.385(075); 537.533.2(075)
Предметные рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА ; ИОНЫ ; МИКРОЭЛЕКТРОНИКА ; ВАКУУМНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ; ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ ; ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ЭНЕРГИИ ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ПОТОКИ ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУШКИ (техн.) ; ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ ; ВАКУУМ ; КРИОЭЛЕКТРОНИКА ; ЭКЗОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; ЭМИССИЯ (физ.) ; ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; АВТОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; ЭЛЕКТРОДНЫЕ ПРОЦЕССЫ ; НАНОЭЛЕКТРОНИКА

Держатели документа:
18.

Физика пучков заряженных частиц: учебное пособие
Д. Б. Золотухин, А. С. Климов, А. В. Тюньков, Ю. Г. Юшков;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск: Изд-во ТУСУРа. - 2021. - 151с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-86889-931-7. - Тираж 150экз.
ГРНТИ: 29.35.39
УДК: 537.533.3
Предметные рубрики: Электронная и ионная оптика
Ключевые слова: уравнение Лоренца уравнения Эйлера-Лагранжа плазменные источники электронов электронно-лучевая сварка электронно-лучевая плавка диэлектрические покрытия электронные пучки ионные пучки
Аннотация: Рассматривается движение заряженных частиц в электрическом и магнитном полях, генерация импульсных и непрерывных пучков заряженных частиц и их применение. Для аспирантов направления подготовки 11.06.01, а также студентов и аспирантов высших учебных заведений, специализирующихся в области физической электроники, ионно-плазменных и лучевых технологий, вакуумной и плазменной электроники, микро- и наноэлектроники, физики твердого тела, материаловедения. Может быть полезно для специалистов и инженеров, связанных с разработкой источников заряженных частиц и их применением в различных областях науки и техники.

Держатели документа:
19.
Иванов А. В.
Динамика заряженных частиц и интенсивных пучков в стационарных полях: [учебное пособие]
А. В. Иванов;[НГТУ, НЭТИ]. - Новосибирск: НГТУ. - 2020. - 246, [1] с.: ил. -(Серия "Учебники НГТУ"). - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-7782-4139-8
ГРНТИ: 29.05; 29.35.39; 29.01.33
УДК: 537.81(075); 537.533.3(075); 621.384.6.01(075)
Предметные рубрики: ЭЛЕКТРОДИНАМИКА ; ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА ; ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ ; ДИНАМИКА ЧАСТИЦ ; ДРЕЙФ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ ; ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ПОЛЯ ; ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОЕ ПОЛЕ ; ВЕКТОРНЫЕ ПОЛЯ ; АКСИАЛЬНАЯ СИММЕТРИЯ ; ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ ; ПОТОКИ ЧАСТИЦ ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ПОТОКИ ; ТЕРМОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ; ЛИУВИЛЛЯ ТЕОРИЯ ; ЭМИТТАНС ; УСКОРИТЕЛИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ ; ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУШКИ (техн.) ; ПЛАЗМЕННЫЕ ЭМИТТЕРЫ ; РАСЧЕТА МЕТОДЫ

Держатели документа:
20.
Дудников В.Г.
Источники отрицательных ионов: [монография]
В. Г. Дудников;Министерство науки и высшего образования РФ, Новосибирский государственный университет. - 2-е изд., доп. - Новосибирск: ИПЦ НГУ. - 2019. - 309с.: ил. - На рус.яз. - Российская Федерация. - Рез. англ. - ISBN 978-5-4437-0785-3. - Тираж 300экз.
ГРНТИ: 29.35.37
УДК: 537.533.2
Предметные рубрики: Ионные источники (физ.)

Держатели документа:
 1-20    21-40   41-60      

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)