Главная страница

Базы данных


Российский сводный каталог по научно-технической литературе - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>U=531.713$<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Nanoscale calibration standards and methods: dimensional and related measurements in the micro- and nanometr range
ed. G. Wilkening, L. Koenders. - Weincheim: Wiley-VCH. - 2005. - XXII, 519 p.: ill. - На англ.яз. - Германия. - ISBN 3-527-40502-X
ГРНТИ: 29.31.29
УДК: 531.713.8
Предметные рубрики: Микроскопы измерительные

Держатели документа:
2.

Методы и средства измерений метрических резьб и внутренних угловых размеров: учебное пособие
П. Н. Хопин, В. И. Высоцкая, Т. В. Токмакова, С. Б. Маликов;Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). - Москва: Изд-во МАИ. - 2020. - 64с.: ил. -(Учебное пособие). - На рус.яз. - Российская Федерация. - ISBN 978-5-4316-0685-4. - Тираж 150экз.
ГРНТИ: 55.03.29; 90.27.27
УДК: 621.88.082.1; 531.713.8; 531.741
Предметные рубрики: Резьбы ; Микроскопы измерительные ; Угломеры

Держатели документа:

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)