Ар11-2096 Жевнеров, Е. В. Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / Е. В. Жевнеров. - М., 2011. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-25
Кл.слова (ненормированные): рентгеновские дифрактометры -- электронная промышленность -- полупроводниковые соединения -- дефекты -- амфотерная примесь Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар12-14381 Рустамова, Е. Г. Введение наночастиц (2 - 10 нм) в матрицу полиэтилена как путь создания стандартных образцов [Текст] : автореф. дис. ... канд. хим. наук : 02.00.03 / Е. Г. Рустамова. - М., 2012. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-24 (9 назв.)
Кл.слова (ненормированные): нанометрология -- рентгеновские дифрактометры -- калибровка Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |