Ар10-26438 Волкова, М. А. Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / М. А. Волкова. - СПб., 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18 (12 назв.) В надзаг.: С.-Петербург. гос. ун-т информ. технологий, механки и оптики
Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- качество изображения -- автоматизированное рабочее место -- светодиоды -- осветительные устройства -- световые микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар10-26785 Пьянков, Е. С. Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Е. С. Пьянков. - М., 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные): сканирующие зондовые микроскопы -- система позиционирования -- точность -- зонд -- температурный дрейф -- специализированные интегральные схемы -- термоконтроллер -- измерительная часть -- калибровка Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-3038 Шарипов, Т. И. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов, 2011. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные): молекулярная биология -- биосенсоры -- сканирующие зондовые микроскопы -- днк-чипы -- олигонуклеотиды Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-4881 Номера Мохамед Абас Хадия Получение и исследование оптических свойств нитевидных полупроводниковых оксидов SnO2 и In2O3 [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / Н. М.А. Хадия. - Воронеж, 2011. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-16 (17 назв.)
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые нанонити -- нитевидные гетероструктры -- газотранспортный синтез -- морфология -- просвечивающие электронные микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-15684 Сенин, В. В. Взаимосвязь электромагнитных свойств, субмикроструктуры и дефектности лантан-стронциевых манганитов с замещением марганца хромом [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / В. В. Сенин. - Астрахань, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21
Кл.слова (ненормированные): перовскитоподобные манганиты -- физические свойства -- магнитосопротивление -- рентгеноструктурный анализ -- растровые электронные микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-17083 Шаронов, В. А. Взаимодействие электронных и механических зондов с рельефной поверхностью в нанометровом диапазоне [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. А. Шаронов. - Долгопрудный, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21 В надзаг.: Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т)
Кл.слова (ненормированные): наноэлектроника -- нанотехнологии -- твердые тела -- нанорельеф поверхности -- геометрические параметры -- электронные зонды -- механические зонды -- растровые электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-18273 Кузнецов, М. М. Совершенствование оптических методов псевдоцветового кодирования изображений для фотометрических измерений [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.05 / М. М. Кузнецов. - Новосибирск, 2011. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные): оптические измерения -- микроскопические объекты -- интерферометры -- фазово-контрастные микроскопы -- информативность -- изображения -- псевдоцветовое кодирование -- видеокамеры Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
АР10-29894 Тихоглаз, Ю. С. Математические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.01 / Ю. С. Тихоглаз. - М., 2010. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (19 назв.) В надзаг.: Моск. гос. ин-т электроники и математики (техн. ун-т)
Кл.слова (ненормированные): электронные приборы -- микроминиатюризация -- технический контроль -- электронные микроскопы -- системы распознавания Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-19927 Тюнькин, И. В. Влияние малой предварительной ориентации на механизм деформирования полимеров и композитов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.06 / И. В. Тюнькин. - М., 2011. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 26 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные): хрупкость -- разрушение -- деформационные кривые -- наполнители -- растровые электронные микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар11-23490 Полищук, Г. С. Оптические системы микроскопов контроля поверхностных фотолитографических дефектов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / Г. С. Полищук. - СПб., 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 21 (5 назв.) В надзаг.:С.-Петербург. исслед. ун-т информац. технологий, механики и оптики
Кл.слова (ненормированные): фотолитография -- микроскопы -- оптические системы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар12-16376 Семин, С. В. Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / С. В. Семин. - М., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные): спектрометры-микроскопы -- лабораторный макет -- микроструктуры -- наноструктуры -- оптические свойства Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар12-19384 Кошев, Н. А. Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Н. А. Кошев. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (4 назв.)
Кл.слова (ненормированные): растровые электронные микроскопы -- реконструкция сигнала -- режим обратно рассеянных электронов -- искажение сигнала Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар12-19706 Стовпяга, А. В. Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 / А. В. Стовпяга. - СПб., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-22 В надзаг.: С.-Петербург. нац. исслед. ун-т информац. технологий и оптки
Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- зондовые датчики Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар13-13580 Мещеряков, А. В. Аппаратно-программные модули и методы адаптивного сканирования для быстродействующих систем управления сканирующих зондовых микроскопов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / А. В. Мещеряков. - М., 2013. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-26 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- системы управления -- скорость сканирования Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар13-14814 Зуйков, А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютерной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16 / А. А. Зуйков. - М., 2013. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (7 назв.)
Кл.слова (ненормированные): измерительные микроскопы -- точность Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар13-16845 Латонов, И. В. Повышение точности трехкоординатных измерений геометрических параметров изделий в компьютерной микроскопии методами продольной фокусировки и триангуляции [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16 / И. В. Латонов. - М., 2013. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-23 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные): микроскопы измерительные -- точность измерений Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар14-10604 Соколенко, Б. В. Эволюция поляризационных сингулярностей в параксиальных пучках, распространяющихся ортогонально оптической оси одноосного кристалла [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Б. В. Соколенко. - Симферополь, 2014. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20. - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): оптические вихревые сканирующие микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар14-14822 Краснобородько, С. Ю. Исследование и разработка комплекса методик для совершенствования функциональных и точностных характеристик атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / С. Ю. Краснобородько. - М., 2014. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (29 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): микроскопы силовые -- кантилеверы -- сверхтонкие пленки Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар15-4635 Маловичко, И. М. Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. М. Маловичко. - М., 2015. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): поверхность -- исследования -- пространственное разрешение -- атомно-силовые микроскопы Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |