Ар10-28792 Новиков, В. А. Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIIIBV и контактов металл/AIIIBV методом атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / В. А. Новиков. - Томск, 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18
Кл.слова (ненормированные): контакт металл-полупроводник -- диоды Шоттки -- производство -- технический контроль -- атомно-силовая микроскопия -- подложки -- поверхность -- морфология -- эпитаксиальные пленки -- электронные свойства Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ар12-3991 Зуев, С. М. Тепловые процессы в системах металлизаций полупроводниковых структур и керамик [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / С. М. Зуев. - Ульяновск, 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- производство -- контакт металл-полупроводник -- металлизация Экземпляры всего 1: ХР (1) Свободны: ХР (1) |