Поисковый запрос: (<.>U=621.385.833.2(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 21
Показаны документы с 1 по 21 |
1. 
| АР96-2642
Антонов, А. П.
Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов. - СПб, 1996. - 17 с.
Библиогр.:с. 16-17(15 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| АР97-2785
Литвинов, В. Л.
Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов. - СПб, 1997. - 16 с. : ил.
Библиогр.:с. 15-16(15 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| АР00-4961
Рехвиашвили, С. Ш.
Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили. - Нальчик, 1999. - 19 с. : ил.
Библиогр.:с. 15-16(12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| АР00-8704
Горбенко, О. М.
Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко. - СПб., 2000. - 18 с. : ил.
В надзаг. : Рос.АН. Ин-т аналит. приборостроения. Библиогр.:с. 17-18
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| АР01-4451
Шелковников, Е. Ю.
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников. - Иджевск, 2000. - 20 с. : ил.
Библиогр.:с. 18-20(35 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар04-4518
Гуляев, П. В.
Разработка и исследование пьезоэлектрических устройств и методов управления ими в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / П. В. Гуляев. - Ижевск, 2003. - 20 с. : ил.
Библиогр.: с. 19-20(22 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| Ар05-236
Рехвиашвили, С. Ш.
Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили. - Нальчик, 2004. - 32 c. - Библиогр.: с. 29-32 (40 назв.). - 100 экз.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| Ар05-1788
Тюриков, А. В.
Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. В. Тюриков. - Ижевск, 2004. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (18 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| Ар05-1787
Кизнерцев, С. Р.
Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14, 05.11.13 / С. Р. Кизнерцев. - Ижевск, 2004. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (24 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| Ар05-2266
Волков, Ю. П.
Морфофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения (туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля) [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.16, 05.27.01 / Ю. П. Волков. - Саратов, 2004. - 36 с. : ил. - Библиогр.: с. 33-36(40 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
11.
| Ар07-3975
Гудцов, Д. В.
Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13, 05.11.14 / Д. В. Гудцов. - Ижевск, 2006. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (17 назв.).
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
12.
| Ар07-4969
Галимуллин, Д. З.
Разделение сложных сигналов с помощью вейвлет-производной спектрометрии и биспектрального анализа [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Д. З. Галимуллин. - Казань, 2006. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-16(16 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
13.
| Ар09-442
Шелковников, Е. Ю.
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.16 / Е. Ю. Шелковников. - Ижевск, 2008. - 48 с. : ил. - Библиогр.: с. 44-48(51 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
14.
| Ар09-22504
Поляков, В. В.
Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп совместимый с базовыми методами нанотехнологий [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.01 / В. В. Поляков. - М., 2009. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 18 (7 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
15.
| Ар10-24992
Карташев, В. В.
Алгоритмическое и программное обеспечение комплексов для зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.11 / В. В. Карташев. - М., 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18 (9 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- алгоритмическое обеспечение -- программное обеспечение -- обработка данных -- туннельный микроскоп -- поверхностный рельеф
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
16.
| Ар10-26785
Пьянков, Е. С.
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Е. С. Пьянков. - М., 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
сканирующие зондовые микроскопы -- система позиционирования -- точность -- зонд -- температурный дрейф -- специализированные интегральные схемы -- термоконтроллер -- измерительная часть -- калибровка
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
17.
| Ар12-13141
Гафаров, М. Р.
Разработка методов и средств контроля дисперсности наночастиц сканирующим туннельным микроскопом [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13, 05.11.14 / М. Р. Гафаров. - Ижевск, 2012. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
металлические наночастицы -- физико-химические свойства -- дисперсность -- контроль -- сканирующий туннельный микроскоп
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
18.
| Ар12-13142
Суворов, А. С.
Идентификация изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. С. Суворов. - Ижевск, 2012. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23 (21 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
кластерные материалы -- наночастицы -- топографические изображения -- идентификация -- сканирующий туннельный микроскоп
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
19.
| Ар12-16376
Семин, С. В.
Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / С. В. Семин. - М., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные):
спектрометры-микроскопы -- лабораторный макет -- микроструктуры -- наноструктуры -- оптические свойства
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
20.
| Ар12-19384
Кошев, Н. А.
Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Н. А. Кошев. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (4 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- реконструкция сигнала -- режим обратно рассеянных электронов -- искажение сигнала
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
21.
| Ар12-19706
Стовпяга, А. В.
Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 / А. В. Стовпяга. - СПб., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-22
В надзаг.: С.-Петербург. нац. исслед. ун-т информац. технологий и оптки
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- зондовые датчики
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных