Поисковый запрос: (<.>U=543.456(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5 |
>1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| АР02-6051
Благов, Е. В. Аддитивная теория силового взаимодействия в атомно-силовой микроскопии и ее приложения в диагностике поверхностных микроструктур [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук01.04.10 / Е. В. Благов. - М., 2001. - 39 с. : ил. Библиогр.: с. 34-37(19 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар07-10505
Молчанов, С. П. Многопараметрическая атомно-силовая микроскопия в физико-химических исследованиях микро- и нанообъектов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.04 / С. П. Молчанов. - М., 2007. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19(25 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| АР10-29638
Быков, И. В. Развитие и автоматизация методов измерения рельефа и локальных свойств биологических объектов в атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. В. Быков. - М., 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 18 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- полуконтактный метод -- автоматизация -- биологические объекты -- рельеф -- локальные свойства -- фазовые кривые -- двумерные карты -- поточечные измерения
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-12796
Няпшаев, И. А. Атомно-силовая микроскопия механических свойств различных наносистем [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / И. А. Няпшаев. - СПб., 2013. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 21
Кл.слова (ненормированные): нанопровода -- полупроводниковые нановискеры -- нанотрубки -- модуль юнга
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар15-4635
Маловичко, И. М. Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. М. Маловичко. - М., 2015. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): поверхность -- исследования -- пространственное разрешение -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|