Поисковый запрос: (<.>U=535.415(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6 |
1. 
| АР95-6037
Путрина, Е. В.
Волновые свойства тонкослойных интерференционных структур с малыми потерями и вариациями параметров [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.03 / Е. В. Путрина. - М., 1995. - 14 с.
В надзаг.: МГУ им.М.В.Ломоносова.Физ.фак. Библиогр.: с.14(4 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| АР95-6510
Никитенко, А. А.
Лазерные методы исследования ленгмюровских мономолекулярных пленок: микроскопия и рефлектометрия под углом Брюстера [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.21 / А. А. Никитенко. - М., 1995. - 19 с. : ил
В надзаг.: Рос. АН, Ин-т общ. физики. Библиогр.:с.18-19
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| АР99-2436
Сухов, С. В.
Эффект ближнего поля в сверхтонкой нелинейной пленке резонансных атомов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / С. В. Сухов. - Ульяновск, 1998. - 18 с. : ил.
Библиогр.:с. 18(5 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| Ар04-5909
Мисюряев, Т. В.
Квадратичные нелинейно-оптические свойства кристаллов и тонких пленок в окрестности структурных фазовых переходов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / Т. В. Мисюряев. - М., 2004. - 22 c. : ил.
В надзаг.: МГУ им. М.В.Ломоносова, НИИ ядерной физики им. Д.В.Скобельцына. Библиогр.: с. 21-22(10 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар04-8670
Хомченко, А. В.
Волноводная спектроскопия тонких пленок [Текст] : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.05 / А. В. Хомченко. - Минск, 2003. - 39 с. : ил.
В надзаг.: Гос. науч. учреждение "Ин-т физики им. Б. И. Степанова Нац. АН Беларуси". Библиогр.: с. 31-36 (64 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар05-6081
Кутавичюс, В. П.
Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / В. П. Кутавичюс. - Минск, 2004. - 20 с : ил. - Библиогр.: с. 16-17(11 назв.)
В надзаг.: Нац. АН Беларуси, Ин-т физики им.Б.И.Степанова
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных