Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=растровые электронные микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Ар11-15684

    Сенин, В. В.
    Взаимосвязь электромагнитных свойств, субмикроструктуры и дефектности лантан-стронциевых манганитов с замещением марганца хромом [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / В. В. Сенин. - Астрахань, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
перовскитоподобные манганиты -- физические свойства -- магнитосопротивление -- рентгеноструктурный анализ -- растровые электронные микроскопы

Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
2.
Ар11-17083

    Шаронов, В. А.
    Взаимодействие электронных и механических зондов с рельефной поверхностью в нанометровом диапазоне [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. А. Шаронов. - Долгопрудный, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21
В надзаг.: Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т)

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
наноэлектроника -- нанотехнологии -- твердые тела -- нанорельеф поверхности -- геометрические параметры -- электронные зонды -- механические зонды -- растровые электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы

Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
3.
Ар11-19927

    Тюнькин, И. В.
    Влияние малой предварительной ориентации на механизм деформирования полимеров и композитов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.06 / И. В. Тюнькин. - М., 2011. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 26 (10 назв.)

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
хрупкость -- разрушение -- деформационные кривые -- наполнители -- растровые электронные микроскопы

Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
4.
Ар12-19384

    Кошев, Н. А.
    Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Н. А. Кошев. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (4 назв.)

ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- реконструкция сигнала -- режим обратно рассеянных электронов -- искажение сигнала

Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)