Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая зондовая микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6 |
>1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар10-25192
Силибин, М. В. Исследование и разработка методов контроля параметров наноразмерных пленок твердых растворов титаната-цирконата свинца [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / М. В. Силибин. - М., 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-26 (30 нзв.)
Кл.слова (ненормированные): твердотельная электроника -- сегнетоэлектрические пленки -- сегнетоэлектрические материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- диэлектрические характеристики -- наноразмерные покрытия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар10-28110
Канаметов, А. А. Электростатическое и ван-дер-ваальсово взаимодействие зондов атомно-силового микроскопа с поверхностями [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / А. А. Канаметов. - Нальчик, 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 18 (6 назв.)
Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- рельеф -- визуализация -- силовая спектроскопия -- данные -- анализ -- статистическая обработка
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-10233
Леесмент, С. И. Методы программно-аппаратной коррекции экспериментальных данных в атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.01 / С. И. Леесмент. - СПб., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- поверхность -- рельеф -- изображение
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-13970
Иевлев, А. В. Формирование микро- и нанодоменных структур в сегнетоэлектрических материалах методами сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / А. В. Иевлев. - Екатеринбург, 2012. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23
Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические кристаллы -- переключение поляризации -- микродоменные структуры -- сканирующая зондовая микроскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-21040
Лебедев, Д. В. Получение и исследование металлических наночастиц на поверхности высокоориентированного пиролитического графита и диоксида кремния методами сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.17 / Д. В. Лебедев. - Казань, 2012. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23
Кл.слова (ненормированные): нанолитография -- сканирующая зондовая микроскопия -- каталитическая активность
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>6. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-19834
Воробьев, Г. И. Параметры и корреляции наноструктуры поверхности и свойств полимерных материалов различного функционального назначения [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.17.06 / Г. И. Воробьев. - СПб., 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (5 назв.)
Кл.слова (ненормированные): композиционные материалы -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|