Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 19 |
1. 
| Ар10-26438
Волкова, М. А.
Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / М. А. Волкова. - СПб., 2010. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18 (12 назв.)
В надзаг.: С.-Петербург. гос. ун-т информ. технологий, механки и оптики
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- качество изображения -- автоматизированное рабочее место -- светодиоды -- осветительные устройства -- световые микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| Ар10-26785
Пьянков, Е. С.
Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабильности для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Е. С. Пьянков. - М., 2010. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
сканирующие зондовые микроскопы -- система позиционирования -- точность -- зонд -- температурный дрейф -- специализированные интегральные схемы -- термоконтроллер -- измерительная часть -- калибровка
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| Ар11-3038
Шарипов, Т. И.
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов, 2011. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
молекулярная биология -- биосенсоры -- сканирующие зондовые микроскопы -- днк-чипы -- олигонуклеотиды
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| Ар11-4881
Номера Мохамед Абас Хадия
Получение и исследование оптических свойств нитевидных полупроводниковых оксидов SnO2 и In2O3 [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / Н. М.А. Хадия. - Воронеж, 2011. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-16 (17 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые нанонити -- нитевидные гетероструктры -- газотранспортный синтез -- морфология -- просвечивающие электронные микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар11-15684
Сенин, В. В.
Взаимосвязь электромагнитных свойств, субмикроструктуры и дефектности лантан-стронциевых манганитов с замещением марганца хромом [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / В. В. Сенин. - Астрахань, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21
Кл.слова (ненормированные):
перовскитоподобные манганиты -- физические свойства -- магнитосопротивление -- рентгеноструктурный анализ -- растровые электронные микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар11-17083
Шаронов, В. А.
Взаимодействие электронных и механических зондов с рельефной поверхностью в нанометровом диапазоне [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / В. А. Шаронов. - Долгопрудный, 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21
В надзаг.: Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т)
Кл.слова (ненормированные):
наноэлектроника -- нанотехнологии -- твердые тела -- нанорельеф поверхности -- геометрические параметры -- электронные зонды -- механические зонды -- растровые электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| Ар11-18273
Кузнецов, М. М.
Совершенствование оптических методов псевдоцветового кодирования изображений для фотометрических измерений [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.05 / М. М. Кузнецов. - Новосибирск, 2011. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
оптические измерения -- микроскопические объекты -- интерферометры -- фазово-контрастные микроскопы -- информативность -- изображения -- псевдоцветовое кодирование -- видеокамеры
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| АР10-29894
Тихоглаз, Ю. С.
Математические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.01 / Ю. С. Тихоглаз. - М., 2010. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (19 назв.)
В надзаг.: Моск. гос. ин-т электроники и математики (техн. ун-т)
Кл.слова (ненормированные):
электронные приборы -- микроминиатюризация -- технический контроль -- электронные микроскопы -- системы распознавания
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| Ар11-19927
Тюнькин, И. В.
Влияние малой предварительной ориентации на механизм деформирования полимеров и композитов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.06 / И. В. Тюнькин. - М., 2011. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 26 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
хрупкость -- разрушение -- деформационные кривые -- наполнители -- растровые электронные микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| Ар11-23490
Полищук, Г. С.
Оптические системы микроскопов контроля поверхностных фотолитографических дефектов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / Г. С. Полищук. - СПб., 2011. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 21 (5 назв.)
В надзаг.:С.-Петербург. исслед. ун-т информац. технологий, механики и оптики
Кл.слова (ненормированные):
фотолитография -- микроскопы -- оптические системы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
11.
| Ар12-16376
Семин, С. В.
Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.07 / С. В. Семин. - М., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные):
спектрометры-микроскопы -- лабораторный макет -- микроструктуры -- наноструктуры -- оптические свойства
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
12.
| Ар12-19384
Кошев, Н. А.
Методы реконструкции спектров и изображений в растровой электронной микроскопии в режиме отраженных электронов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Н. А. Кошев. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 19 (4 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- реконструкция сигнала -- режим обратно рассеянных электронов -- искажение сигнала
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
13.
| Ар12-19706
Стовпяга, А. В.
Технология создания и исследование пьезорезонансных зондовых датчиков для сканирующего зондового микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.14 / А. В. Стовпяга. - СПб., 2012. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-22
В надзаг.: С.-Петербург. нац. исслед. ун-т информац. технологий и оптки
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- зондовые датчики
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
14.
| Ар13-13580
Мещеряков, А. В.
Аппаратно-программные модули и методы адаптивного сканирования для быстродействующих систем управления сканирующих зондовых микроскопов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / А. В. Мещеряков. - М., 2013. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-26 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- системы управления -- скорость сканирования
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
15.
| Ар13-14814
Зуйков, А. А.
Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютерной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16 / А. А. Зуйков. - М., 2013. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (7 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
измерительные микроскопы -- точность
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
16.
| Ар13-16845
Латонов, И. В.
Повышение точности трехкоординатных измерений геометрических параметров изделий в компьютерной микроскопии методами продольной фокусировки и триангуляции [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.16 / И. В. Латонов. - М., 2013. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-23 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы измерительные -- точность измерений
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
17.
| Ар14-10604
Соколенко, Б. В.
Эволюция поляризационных сингулярностей в параксиальных пучках, распространяющихся ортогонально оптической оси одноосного кристалла [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Б. В. Соколенко. - Симферополь, 2014. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20. - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные):
оптические вихревые сканирующие микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
18.
| Ар14-14822
Краснобородько, С. Ю.
Исследование и разработка комплекса методик для совершенствования функциональных и точностных характеристик атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / С. Ю. Краснобородько. - М., 2014. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (29 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы силовые -- кантилеверы -- сверхтонкие пленки
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
19.
| Ар15-4635
Маловичко, И. М.
Нерезонансные прерывисто-контактные методы атомно-силовой микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. М. Маловичко. - М., 2015. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные):
поверхность -- исследования -- пространственное разрешение -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных