Web ИРБИС

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Российский сводный каталог по научно-технической литературе

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>U=678.027.94-022.532.01:541.183(043)<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Ар10-25755

Быстров, С. Г.
Методология диагностики на наноразмерном уровне локального физико-химического строения поверхности и межфазных слоев полимерных композиционных материалов [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 01.04.01 / С. Г. Быстров. - Ижевск, 2010. - 32 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-32

ГРНТИ	61.61.29
УДК	678.027.94-022.532.01:541.183(043)

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ик-спектроскопия -- дифрактометрия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия

Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)