Поисковый запрос: (<.>U=620.179.118(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10 |
1. 
| АР95-2203
Яковенко, А. В.
Возможности развития электронной оже-спектроскопии: учет влияния шероховатости поверхности и восстановление формы спектров [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / А. В. Яковенко. - Рязань, 1994. - 16 с. : ил
В надзаг.: Рязан.гос.пед.ун-т. Библиогр.: с.13(11 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| АР95-4523
Коловский, Ю. В.
Исследование радиотехнических систем для определения рельефа технологических поверхностей [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук в форме науч.докл.:05.12.21 / Ю. В. Коловский. - Красноярск, 1995. - 38 с. : ил
В надзаг.: Краснояр.гос.техн.ун-т. Библиогр.: с.34-38(41 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| АР95-5288
Литвак, М. Я.
Рассеяние света негауссовскими шероховатыми поверхностями:анализ на основе полигауссовских моделей случайных процессов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / М. Я. Литвак. - СПб., 1995. - 22 с. : ил
Библиогр.: с.21-22(8 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| АР97-3681
Чмутин, А. М.
Разработка лазерного доплеровского метода и устройств для измерения параметров тангенциальной вибрации шероховатых поверхностей [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.05 / А. М. Чмутин. - М., 1997. - 15 с. : ил.
В надзаг. :Всерос.НИИ оптико-физ.измерений. Библиогр.:с. 14-15(18 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| АР00-6479
Шулепов, А. В.
Повышение эффективности определения состояния режущего инструмента на основе спектрального анализа шероховатости обработанной поверхности детали [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.16 / А. В. Шулепов. - М., 1999. - 18 с. : ил.
Библиогр.:с. 17-18
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| АР90-017408
Ангельский, О. В.
Корреляционные характеристики поля рассеянного оптического излучения и диагностика структуры и динамики фазовых объектов [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05 / О. В. Ангельский. - Саратов, 1990. - 41 с. : ил.
В надзаг. : Саратов. гос. ун-т . Библиогр.:с. 34-41(76 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| Ар07-11346
Некрасов, В. Н.
Управление качеством деталей путем прогнозирования топографии обработанной поверхности с использованием имитационного моделирования (на примере торцевого фрезерования) [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.03.01, 05.13.06 / В. Н. Некрасов. - Барнаул, 2007. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (9 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| Ар07-10667
Доц, М. В.
Обеспечение параметров качества поверхностей деталей из стеклопластика на основе нейросетевых моделей формирования шероховатости [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.08 / М. В. Доц. - Барнаул, 2007. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-20 (14 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| Ар08-8399
Занавескин, М. Л.
Атомно-силовая микроскопия в исследовании шероховатости наноструктурированных поверхностей [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / М. Л. Занавескин. - М., 2008. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 22(6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| Ар10-17308
Золотаревский, С. Ю.
Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.15 / С. Ю. Золотаревский. - М., 2010. - 35 с. : ил. - Библиогр.: с. 33-35 (12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных