Поисковый запрос: (<.>U=621.315.592.9.08(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5 |
1. 
| АР98-5348
Мехтиев, М. М.
Определение реальных физических параметров полупроводниковых структур методом импульсной фотодефлекционной спектроскопии [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / М. М. Мехтиев. - М., 1998. - 22 с.
Библиогр.:с. 20-22 (16 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| АР00-5805
Уткин, А. Б.
Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.10,05.13.16 / А. Б. Уткин. - СПб, 1999. - 17 с. : ил.
В надзаг.:С.-Петербург. ун-т. Библиогр.:с. 15-17
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| Ар04-12295
Поздняков, В. А.
Исследование возможности повышения чувствительности метода СВЧ-магнитосопротивления к изменению подвижности электронов в полупроводниковых структурах с использованием синхронизированного СВЧ-генератора на диоде Ганна [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.03, 05.27.01 / В. А. Поздняков. - Саратов, 2004. - 15 с. : ил. - Библиогр.: с. 14-15(9 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| Ар11-2534
Вареник, Ю. А.
Средства измерения вольт-фарадных характеристик полупроводниковых структур [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / Ю. А. Вареник. - Пенза, 2010. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые структуры -- параметры -- измерение -- вольт-фарадные методы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар13-4795
Саламатов, Ю. А.
Рентгеновская диагностика слоев и интерфейсов в слабоконтрастных многослойных металлических наногетероструктурах [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Ю. А. Саламатов. - Екатеринбург, 2013. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22
Кл.слова (ненормированные):
металлические наногетероструктуры -- локальное атомное строение -- рентгеновская рефлектометрия -- EXAFS-спектроскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных