Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.315.592.9.004.6(043)<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.
АР98-6220

    Енишерлова-Вельяшева, К. Л.
    Физико-технологические основы управления процессами дефектообразования в кремниевых полупроводниковых структурах [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.06 / К. Л. Енишерлова-Вельяшева. - М., 1998. - 46 с.
В надзаг. :Гос. унитарное предприятие НПП Пульсар. Библиогр.:с. 42-46(61 назв.)

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
2.
АР99-6650

    Малявка, Л. В.
    Свойства дефектов и процессы дефектообразования в ионно-имплантированных структурах Si-Sio2 [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Л. В. Малявка. - СПб, 1999. - 15 с. : ил.
В надзаг. :С.-Петерб. гос. ун-т. Библиогр.:с. 15(6 назв.)

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
3.
АР00-3770

    Мустафа, Н. С.
    Дефектообразование в структурах SI-SIO в процессе полевого воздействия [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук: 01.04.10 / Н. С. Мустафа. - СПб, 1999. - 16 с.
В надзаг. :С.-Петерб. гос. ун-т. Библиогр.:с. 16

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
4.
АР01-335

    Литвинов, В. Г.
    Дефекты с глубокими уровными в тонких слоях ZnSe и разрывы зон в квантово-размерных структурах на основе ZnSe/ZnCdSeи ZnTe/ZnCdTe, выращенных методом эпитаксии из молекулярных пучков [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / В. Г. Литвинов. - Рязань, 2000. - 19 с.
Библиогр.:с. 18-19

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
5.
Ар06-8676

    Каданцев, А. В.
    Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / А. В. Каданцев. - Воронеж, 2006. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18 (13 назв.).

ГРНТИ
УДК


Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)