Поисковый запрос: (<.>U=537.533.35(043)<.>) |
Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9 |
1. 
| АР94-1464
Руколайне, С. А.
Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне. - СПб., 1994. - 15 с.
В надзаг.: РОс.АН,Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.14-15(8 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| АР99-7346
Роддатис, В. В.
Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / В. В. Роддатис. - М., 1999. - 19 с. : ил.
Библиогр.:с. 17-18(10 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| АР01-1268
Мурясов, Р. Р.
Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов. - М., 2000. - 20 с. : ил.
В надзаг. : Рос.АН. Ин-т хим. физики им.Н.Н.Семенова. Библиогр.:с. 20
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
4.
| Ар04-7219
Лапшин, Р. В.
Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Р. В. Лапшин. - М., 2002. - 34 с. : ил.
Библиогр.: с. 33-34
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
5.
| Ар06-11179
Иванников, П. В.
Новые методы исследования люминесцирующих материалов в растровой электронной микроскопии [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04, 01.04.01 / П. В. Иванников. - М., 2006. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-25(16 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
6.
| Ар07-1137
Грибков, Б. А.
Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / Б. А. Грибков. - Н. Новгород, 2006. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-18.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
7.
| Ар07-6851
Арсеев, П. И.
Эффекты электрон-электронного и электрон-фононного взаимодействия в туннельных системах [Текст] : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.02 / П. И. Арсеев. - М., 2007. - 40 с. : ил. - Библиогр.: с. 37-40
Примечание о содержании: СТМ/СТС
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| Ар07-13877
Швамм, К. Л.
Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / К. Л. Швамм. - Екатеринбург, 2007. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
9.
| Ар13-3100
Смольянинов, Н. А.
Моделирование микроскопических изображений на основе анализа и модификации спектральных характеристик [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.18 / Н. А. Смольянинов. - Владивосток, 2013. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19 (20 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- моделирование изображений
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная страница
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Описание базы данных