Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.315.592.9.002:658.562(043)<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Соловьев В.А. Определение геометрических и электрофизических параметров полупроводниковых гетероструктур методами растровой электронной микроскопии. - 1991
2.
Чистяков В.М. Математическое моделирование в диагностике полупроводниковых гетероструктур. - 1991
3.
Мингазов В.К. Промышленные методы контроля электрофизических параметров тонких эпитаксиальных структур арсенида галлия. - 1990
4.
Ярцев М.А. Контроль электрофизических параметров эпитаксиальных структур на основе кремния и гетеросистемы ZnSe-GaAs. - 1990
 
Описание базы данных
Стандартный
Расширенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)