Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.3.049.77:539.16(043)<.>)
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 20
1.
Лукичев А.Н. Автоматизированное макромоделирование для прогнозирования функциональной и параметрической реакции аналоговых микроэлектронных схем на радиационное воздействие/А. Н. Лукичев. - 2010
2.
Аргамонов А.С. Аппаратно-программные средства контроля характеристик воздействия при имитационных испытаниях интегральных схем на радиационную стойкость. - 2000
3.
Башин А.Ю. Влияние инфракрасного излучения на радиационную деградацию биполярных ИМС/А.Ю. Башин. - 2005
4.
Ковалева Т.Ю. Исследование и использование явления обратимости и нестабильности радиационных дефектов для восстановления параметров МДП ИС при воздействии радиации. - 1999
5.
Москалев В.Ю. Конструктивно-технологические методы повышения радиационной стойкости биполярных и КМОП интегральных схем/В. Ю. Москалев. - 2007
6.
Ахабаев Б.А. Лазерные имитационные методы моделирования переходных ионизационных эффектов в полупроводниковых приборах и интегральных схемах. - 1997
7.
Печенкин А.А. Лазерные методы оценки стойкости КМОП БИС с тиристорным эффектам при воздействии отдельных ядерных частиц/А. А. Печенкин. - 2012
8.
Чумаков А.И. Методы и средства моделирования доминирующих радиационных эффектов в интегральных схемах при воздействии высокоэнергетичных ядерных частиц (повышение достоверности прогнозирования и обеспечения радиационной стойкости электронных устройств). - 1998
9.
Криницкий А.В. Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц/А. В. Криницкий. - 2012
10.
Гришаков В.В. Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость. - 2003
11.
Зольникова А.Н. Моделирование характеристик КМОП ИС с учетом радиации в САПР ИЭТ. - 2000
12.
Лавлинский В.В. Научные основы синтеза виртуальной реальности для объектов проектирования радиационно-стойкой электронной компонентной базы специального назначения/В. В. Лавлинский. - 2015
13.
Гаев А.С. Особенности радиационного дефектообразования в кремниевых интегральных структурах. - 1990
14.
Антипин В.В. Полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы и устройства на их основе в условиях воздействия мощного импульсного СВЧ излучения. - 1996
15.
Чжо Ко Вин Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем/Чжо Ко Вин. - 2013
16.
Никифоров А.Ю. Прогнозирование,диагностирование и обеспечение стойкости КМДП ИС к воздействию импульсного ионизирующего излучения/А. Ю. Никифоров. - 1992
17.
Шунков В.Е. Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5 - 0,35 мкм, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц/В. Е. Шунков. - 2012
18.
Шмелев С.К. Радиационностимулированные эффекты в КМДП ИС на объемном кремнии и со структурой кремнии на сапфире. - 1994
19.
Савченков Д.В. Развитие лазерных методов испытаний интегральных схем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц/Д. В. Савченков. - 2014
20.
Яньков А.И. Разработка средств автоматизации моделирования импульсного радиационного воздействия на комплементарные микросхемы и экспериментальная проверка их эффективности/А. И. Яньков. - 2006

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)