Главная страница

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Российский сводный каталог по научно-технической литературе
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.3.049.76.002(043)<.>)
Общее количество найденных документов : 67
Показаны документы с 1 по 30
 1-30    31-60   61-67 
1.
Леонов Ю.С. Взаимодействие наносекундных потоков энергии из высокотемпературной плазмы с материалами микроэлектроники. - 1990
2.
Бакланов М.Р. Гетерогенные реакции в процессах травления материалов микроэлектроники Si,Ge и SiO/М. Р. Бакланов. - 1991
3.
Курбанов Х. Разработка, исследование и освоение технологии производства изделий из коррозионно-стойких сплавов на основе алюминия методами пластического деформирования для микроэлектроники и электротехники. - 1991
4.
Нечипорук Б.Д. Эффекты структурного разупорядочения в спектрах комбинационного рассеяния света кристаллического и аморфного кремния. - 1991
5.
Филин С.А. Технология высокоэффективной очистки твердотельных микроэлектронных структур. - 1992
6.
Чапланов А.М. Стационарный и импульсный отжиг тонких пленок. - 1992
7.
Казаков А.И. Исследование устойчивости технологических процессов микроэлектроники и многокомпонентных полупроводниковых материалов. - 1992
8.
Медведев Б.К. Молекулярно-лучевая эпитаксия Ga As и гетероструктур GaAs/AlGaAs для приборов микроэлектроники. - 1992
9.
Буравлев А.В. Стимулированная точечными дефектами твердофазная эпитаксиальная кристаллизация аморфного кремния и перестройка дефектов в ионно-имплантированных слоях. - 1992
10.
Миррахматов С.Ш. Повышение механической устойчивости структурно-неоднородных паяных соединений элементов микроэлектронных устройств. - 1992
11.
Волков А.Б. Электрофизические свойства микромостиков, формируемых туннельным зондом. - 1994
12.
Варцов В.В. Технология электроосаждения алюминия из неводных электролитов на выводные рамки электронных приборов. - 1993
13.
Гуляев А.А. Разработка методов и средств автоматизации технологических процессов ультразвуковой микросварки изделий микроэлектроники. - 1993
14.
Радаев А.А. Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники
15.
Радаев А.А. Разработка статистического метода контроля дефектности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники. - 1994
16.
Симакин С.Г. Вторично-ионная масс-спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии. - 1995
17.
Васильев А.Г. Исследование одностадийных низкотемпературных процессов формирования силицидных контактных и нитридных барьерных слоев для технологии микроэлектроники. - 1995
18.
Смирнов А.С. Высокочастотный разряд и его приложения в плазменной технологии и лазерной технике. - 1995
19.
Михалев П.А. Технология изготовления упругих элементов клавиатур микроэлектроники из силоксановых композиций. - 1995
20.
Илларионов О.И. Статистическое регулирование технологических процессов изготовления микроэлектронных устройств. - 1996
21.
Гельбух С.С. Исследование процессов роста субмикронных слоев на поверхности монокристаллов ниобия и кремния методом оже-электронной спектроскопии. - 1996
22.
Гринько В.В. Локальная модификация поверхности проводящих материалов в туннельном микроскопе. - 1996
23.
Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов. - 1996
24.
Гаврилов С.А. Особенности кинетики электрохимического формирования и свойства слоев пористого кремния. - 1997
25.
Фартушная В.М. Оптимизация режимов магнетронного осаждения пленок оксидов металлов для устройств функциональной микроэлектроники. - 1996
26.
Коньшин И.В. Пространственное распределение внедренных атомов при имплантации ионов средних энергий в полиметилметакрилат. - 1997
27.
Ермаков А.В. Исследование механизмов создания наноструктур на поверхности твердого тела с помощью сканирующего туннельного микроскопа и микроскопа атомных сил. - 1998
28.
Резвый Р.Р. Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники. - 1998
29.
Лучинин В.В. Структуро- и формообарзование микро- и наносистем на основе широкозонных материалов,обладающих полиморфизмом/В. В. Лучинин. - 1999
30.
Угольников С.В. Исследование процесса и разработка установки финишной обработки микроприборов потоком твердых частиц. - 1999
 1-30    31-60   61-67 
 
Описание базы данных
Стандартный
Расширенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)