Поисковый запрос: (<.>R=47.01.81$<.>) |
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 30 |
|
1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар10-2652
Автор(ы) : Юдин В.В.
Заглавие : Методы и устройства измерения теплоэлектрических параметров полупроводниковых изделий с применением импульсной модуляции электрической мощности
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01
Выходные данные : Ульяновск, 2009 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-23 (27 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382.08(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар09-8006
Автор(ы) : Мирвода Д.В.
Заглавие : Диагностика состояния линейных трактов радиотехнических систем без их отключения из рабочего режима
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04
Выходные данные : Таганрог, 2009 Колич.характеристики :16 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 15-16(10 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.9-048.24(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар09-2299
Автор(ы) : Дулов О.А.
Заглавие : Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01
Выходные данные : Ульяновск, 2008 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-22(31 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382.33.08(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-2534
Автор(ы) : Вареник Ю.А.
Заглавие : Средства измерения вольт-фарадных характеристик полупроводниковых структур
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01
Выходные данные : Пенза, 2010 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-22 (10 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.315.592.9.08(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры--параметры--измерение--вольт-фарадные методы
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-13635
Автор(ы) : Подкопаев Б.П.
Заглавие : Функциональное диагностирование конечномерных динамических систем
: автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.12.14
Выходные данные : СПб., 2011 Колич.характеристики :34 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 31-34 (43 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.962-044.3(043) + 621.396.932-044.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиолокационные системы--радионавигационные системы--функциональное диагностирование
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
6. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-16028
Автор(ы) : Пщелко Н.С.
Заглавие : Электрофизические методы неразрушающего контроля и формирования металлодиэлектрических структур
: автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13, 05.27.06
Выходные данные : СПб., 2011 Колич.характеристики :40 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 37-40 (50 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 + 47.13.11 УДК : 621.3.049.76-047.56(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металлодиэлектрические структуры--неразрушающий контроль--электрическое поле--электретные микрофоны--электропневматические преобразователи--датчики давления--электроадгезионные технологии
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
7. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-7059
Автор(ы) : Нгуайя М.Л.
Заглавие : Расчетные методы контроля слоистых материалов и изделий на основе исследований коэффициентов отражения и прохождения электромагнитных волн
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13
Выходные данные : М., 2011 Колич.характеристики :16 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 15-16
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.372.542.3-044.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): многослойные структуры--электрические фильтры свч--диэлектрики--полупроводники--проводники--контроль--электромагнитные волны
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
8. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар07-13541
Автор(ы) : Литвинов Б.Я.
Заглавие : Методы и средства передачи размера единицы электрического сопротивления и контроля изделий электронной техники
: автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13, 05.11.15
Выходные данные : СПб., 2007 Колич.характеристики :36 с:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 32-36(34 назв.)
ГРНТИ : 90.27.34 + 47.01.81 УДК : 621.317.33(043) + 621.384:006.91(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
9. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар06-8004
Автор(ы) : Горбунов А.А.
Заглавие : Управление качеством целевого функционирования производственно-технологических комплексов по изготовлению радиоэлектронных средств
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06
Выходные данные : СПб., 2006 Колич.характеристики :24 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 23-24(7 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.6.002:658.562(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
10. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар06-7159
Автор(ы) : Зобенко А.А.
Заглавие : Методическое, алгоритмическое и программное обеспечение контроля технического состояния электромеханических и электронных силовых устройств с общей сетью питания
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13
Выходные данные : СПб., 2005 Колич.характеристики :17 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17(10 назв.)
ГРНТИ : 45.01.81 + 47.01.81 УДК : 621.31.001.4(043) + 621.382.026.001.4(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
11. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар05-7456
Автор(ы) : Терещенко Е.Ю.
Заглавие : Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : М., 2005 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-23.
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.3.049.76:620.179(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
12. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар06-11805
Автор(ы) : Сухов А.В.
Заглавие : Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01
Выходные данные : М., 2006 Колич.характеристики :20 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 18(6 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382.026.001.4(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
13. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар07-1614
Автор(ы) : Анцыферов Е.С.
Заглавие : Системы адаптивного управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23
Выходные данные : М., 2006 Колич.характеристики :22 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 21-22 (9 назв.). - В надзаг.: Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Моск. гос. ин-т радиотехники, электроники и автоматики (техн. ун-т)"
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.6.002:658.562(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
14. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар07-996
Автор(ы) : Ямилова Л.С.
Заглавие : Определение краевых условий механических и электронных систем
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18
Выходные данные : Стерлитамак, 2006 Колич.характеристики :17 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 15-17(12 назв.)
ГРНТИ : 81.83.20 + 47.01.81 УДК : 621.001.4(043) + 621.384.001.4(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
15. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар06-14527
Автор(ы) : Мускатиньев А.А.
Заглавие : Стабилизированные формирователи высоковольтных импульсов для аппаратуры измерения параметров силовых полупроводниковых приборов
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01
Выходные данные : Саранск, 2006 Колич.характеристики :22 с:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-22(18 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382.026.08(043)
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
16. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-6323
Автор(ы) : Фролов И.В.
Заглавие : Средства измерения малосигнальных и шумовых параметров светоизлучающих диодов для целей диагностики их качества
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01
Выходные данные : Ульяновск, 2014 Колич.характеристики :23 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 20-23 (27 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.383.52.08(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): светодиоды--параметры--измерение--качество
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
17. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-5446
Автор(ы) : Поляков С.Л.
Заглавие : Методы и средства повышения качества и конкурентоспособности продукции на базе внедрения технологических инноваций
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23
Выходные данные : Курск, 2014 Колич.характеристики :20 с.
Примечания : Библиогр.: с. 19-20
ГРНТИ : 47.01.81 + 47.01.14 УДК : 621.384:658.562(043) + 658.009.12:621.38(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные приборы--качество--конкурентоспособность
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
18. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-4232
Автор(ы) : Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума
: автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01
Выходные данные : Воронеж, 2014 Колич.характеристики :43 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 36-43 (60 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382:658.562(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые приборы--производство--технический контроль
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
19. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-7378
Автор(ы) : Лопин А.В.
Заглавие : Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04
Выходные данные : Воронеж, 2014 Колич.характеристики :17 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 16-17 (13 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.6-044.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиоэлектронная аппаратура--техническая диагностика
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
20. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-10770
Автор(ы) : Тарасов И.А.
Заглавие : Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Красноярск, 2014 Колич.характеристики :19 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17-19
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.38-022.532-416(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленочная наноэлектроника--технический контроль
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
21. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-10226
Автор(ы) : Йе Тун Тэйн
Заглавие : Методы управления режимами диффузионных установок и контроля качества топологий в микро и наноэлектронике
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06
Выходные данные : М., 2014 Колич.характеристики :24 с.:
ил.
Примечания : Библиогр.: с. 22-23 (14 назв.)
ГРНТИ : 47.13.11 + 47.01.81 УДК : 621.3.049.76-047.84(043) + 621.384-022.532-047.84(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронные приборы--наноэлектронные устройства--производство--технический контроль
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
22. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар14-7265
Автор(ы) : Карташов Д.А.
Заглавие : Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13
Выходные данные : М., 2014 Колич.характеристики :26 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 22-26
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.3.049.76-047.84(043) + 621.38-022.532(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронные приборы--наноэлектроника--производство--технический контроль
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
23. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-2811
Автор(ы) : Вальковский Г.А.
Заглавие : Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоугольного рентгеновского рассеяния
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : СПб., 2013 Колич.характеристики :18 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17-18
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.3.049.76:620.179.15(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника--многослойные системы--неразрушающие методы исследования
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
24. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-10485
Автор(ы) : Орешков М.В.
Заглавие : Разработка измерительного комплекса для контроля и использования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.10
Выходные данные : М., 2012 Колич.характеристики :19 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17-19
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.3.049.771.14-047.84(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы большие--производство--технический контроль--измерительный комплекс
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
25. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-3900
Автор(ы) : Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума
: автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01
Выходные данные : Воронеж, 2012 Колич.характеристики :42 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 36-42 (55 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382:658.562(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые приборы--технический контроль--разбраковка--шумовые параметры
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
26. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар11-20957
Автор(ы) : Святых А.Б.
Заглавие : Контроль технического состояния жидкой изоляции маслонаполненного высоковольтного электрооборудования
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02
Выходные данные : М., 2011 Колич.характеристики :20 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 17-20 (30 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.31.027.3.048.82-044.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электрооборудование высокого напряжения--изоляция жидкая--техническая диагностика
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
27. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар12-18732
Автор(ы) : Орликовский Н.А.
Заглавие : Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.27.01
Выходные данные : М., 2012 Колич.характеристики :25 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 25 (16 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.3.049.76:620.179(043) + 621.38-022.532:620.179(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронные приборы--наноэлектронные приборы--дефектоскопия
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
28. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-5226
Автор(ы) : Курочка А.С.
Заглавие : Особенности электронной эмиссии для контроля процесса реактивного ионно-лучевого травления пленочных гетерокомпозиций
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06
Выходные данные : М., 2013 Колич.характеристики :24 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 22-24 (16 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.315.592.9-047.84(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мдп-структуры--травление--технический контроль
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
29. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-2508
Автор(ы) : Шабельникова Я.Л.
Заглавие : Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода
: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07, 05.27.01
Выходные данные : М., 2013 Колич.характеристики :26 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 24-26 (15 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.382:620.179(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые приборы--микроэлектроника--дефектоскопия
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
30. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : Ар13-4526
Автор(ы) : Моисеев С.А.
Заглавие : Метод прогнозирующего контроля радиоэлектронной аппаратуры с адаптацией межконтрольного интервала
: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13
Выходные данные : Орел, 2013 Колич.характеристики :16 с.:
ил
Примечания : Библиогр.: с. 15-16 (12 назв.)
ГРНТИ : 47.01.81 УДК : 621.396.6-044.3(043) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиоэлектронная аппаратура--техническая диагностика
Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Найти похожие
|
|
|
|