Поисковый запрос: (<.>R=47.01.81$<.>) |
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 30 |
|
>1. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-6323
Фролов, И. В. Средства измерения малосигнальных и шумовых параметров светоизлучающих диодов для целей диагностики их качества [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / И. В. Фролов. - Ульяновск, 2014. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-23 (27 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): светодиоды -- параметры -- измерение -- качество
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>2. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-5446
Поляков, С. Л. Методы и средства повышения качества и конкурентоспособности продукции на базе внедрения технологических инноваций [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23 / С. Л. Поляков. - Курск, 2014. - 20 с. - Библиогр.: с. 19-20. - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): электронные приборы -- качество -- конкурентоспособность
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>3. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-4232
Смирнов, Д. Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2014. - 43 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-43 (60 назв.). - 100 экз.
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>4. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-7378
Лопин, А. В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04 / А. В. Лопин. - Воронеж, 2014. - 17 с. : ил. - Библиогр.: с. 16-17 (13 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): радиоэлектронная аппаратура -- техническая диагностика
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>5. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-10770
Тарасов, И. А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / И. А. Тарасов. - Красноярск, 2014. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19. - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): пленочная наноэлектроника -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>6. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-10226
Йе Тун Тэйн Методы управления режимами диффузионных установок и контроля качества топологий в микро и наноэлектронике [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06 / Йе Тун Тэйн. - М., 2014. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-23 (14 назв.). - 80 экз.
Кл.слова (ненормированные): микроэлектронные приборы -- наноэлектронные устройства -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>7. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар14-7265
Карташов, Д. А. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / Д. А. Карташов. - М., 2014. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-26. - 18 экз.
Кл.слова (ненормированные): микроэлектронные приборы -- наноэлектроника -- производство -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>8. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-2508
Шабельникова, Я. Л. Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07, 05.27.01 / Я. Л. Шабельникова. - М., 2013. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 24-26 (15 назв.)
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- микроэлектроника -- дефектоскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>9. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-4526
Моисеев, С. А. Метод прогнозирующего контроля радиоэлектронной аппаратуры с адаптацией межконтрольного интервала [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / С. А. Моисеев. - Орел, 2013. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16 (12 назв.)
Кл.слова (ненормированные): радиоэлектронная аппаратура -- техническая диагностика
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>10. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-2811
Вальковский, Г. А. Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоугольного рентгеновского рассеяния [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. А. Вальковский. - СПб., 2013. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-18
Кл.слова (ненормированные): микроэлектроника -- многослойные системы -- неразрушающие методы исследования
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>11. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар13-5226
Курочка, А. С. Особенности электронной эмиссии для контроля процесса реактивного ионно-лучевого травления пленочных гетерокомпозиций [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / А. С. Курочка. - М., 2013. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные): мдп-структуры -- травление -- технический контроль
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>12. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-3900
Смирнов, Д. Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов. - Воронеж, 2012. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 36-42 (55 назв.)
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- технический контроль -- разбраковка -- шумовые параметры
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>13. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-10485
Орешков, М. В. Разработка измерительного комплекса для контроля и использования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.10 / М. В. Орешков. - М., 2012. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-19
Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы большие -- производство -- технический контроль -- измерительный комплекс
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>14. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар12-18732
Орликовский, Н. А. Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.27.01 / Н. А. Орликовский. - М., 2012. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 25 (16 назв.)
Кл.слова (ненормированные): микроэлектронные приборы -- наноэлектронные приборы -- дефектоскопия
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>15. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар11-16028
Пщелко, Н. С. Электрофизические методы неразрушающего контроля и формирования металлодиэлектрических структур [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13, 05.27.06 / Н. С. Пщелко. - СПб., 2011. - 40 с. : ил. - Библиогр.: с. 37-40 (50 назв.)
Кл.слова (ненормированные): металлодиэлектрические структуры -- неразрушающий контроль -- электрическое поле -- электретные микрофоны -- электропневматические преобразователи -- датчики давления -- электроадгезионные технологии
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>16. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар11-7059
Нгуайя, М. Л. Расчетные методы контроля слоистых материалов и изделий на основе исследований коэффициентов отражения и прохождения электромагнитных волн [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / М. Л. Нгуайя. - М., 2011. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16
Кл.слова (ненормированные): многослойные структуры -- электрические фильтры свч -- диэлектрики -- полупроводники -- проводники -- контроль -- электромагнитные волны
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>17. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар11-20957
Святых, А. Б. Контроль технического состояния жидкой изоляции маслонаполненного высоковольтного электрооборудования [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02 / А. Б. Святых. - М., 2011. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 17-20 (30 назв.)
Кл.слова (ненормированные): электрооборудование высокого напряжения -- изоляция жидкая -- техническая диагностика
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>18. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар11-13635
Подкопаев, Б. П. Функциональное диагностирование конечномерных динамических систем [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.12.14 / Б. П. Подкопаев. - СПб., 2011. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с. 31-34 (43 назв.)
Кл.слова (ненормированные): радиолокационные системы -- радионавигационные системы -- функциональное диагностирование
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>19. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар11-2534
Вареник, Ю. А. Средства измерения вольт-фарадных характеристик полупроводниковых структур [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / Ю. А. Вареник. - Пенза, 2010. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (10 назв.)
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые структуры -- параметры -- измерение -- вольт-фарадные методы
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>20. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар09-8006
Мирвода, Д. В. Диагностика состояния линейных трактов радиотехнических систем без их отключения из рабочего режима [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.04 / Д. В. Мирвода. - Таганрог, 2009. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16(10 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>21. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар10-2652
Юдин, В. В. Методы и устройства измерения теплоэлектрических параметров полупроводниковых изделий с применением импульсной модуляции электрической мощности [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / В. В. Юдин. - Ульяновск, 2009. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23 (27 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>22. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар09-2299
Дулов, О. А. Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / О. А. Дулов. - Ульяновск, 2008. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22(31 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>23. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар07-13541
Литвинов, Б. Я. Методы и средства передачи размера единицы электрического сопротивления и контроля изделий электронной техники [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13, 05.11.15 / Б. Я. Литвинов. - СПб., 2007. - 36 с : ил. - Библиогр.: с. 32-36(34 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>24. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар06-11805
Сухов, А. В. Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / А. В. Сухов. - М., 2006. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 18(6 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>25. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар06-8004
Горбунов, А. А. Управление качеством целевого функционирования производственно-технологических комплексов по изготовлению радиоэлектронных средств [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06 / А. А. Горбунов. - СПб., 2006. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-24(7 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>26. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар06-14527
Мускатиньев, А. А. Стабилизированные формирователи высоковольтных импульсов для аппаратуры измерения параметров силовых полупроводниковых приборов [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.01 / А. А. Мускатиньев. - Саранск, 2006. - 22 с : ил. - Библиогр.: с. 20-22(18 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>27. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар07-1614
Анцыферов, Е. С. Системы адаптивного управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.02.23 / Е. С. Анцыферов. - М., 2006. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (9 назв.) В надзаг.: Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Моск. гос. ин-т радиотехники, электроники и автоматики (техн. ун-т)"
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>28. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар07-996
Ямилова, Л. С. Определение краевых условий механических и электронных систем [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.13.18 / Л. С. Ямилова. - Стерлитамак, 2006. - 17 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-17(12 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>29. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар05-7456
Терещенко, Е. Ю. Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Е. Ю. Терещенко. - М., 2005. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-23.
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
>30. ![](/irbis64r_simplesite/images/printer.jpg)
| Ар06-7159
Зобенко, А. А. Методическое, алгоритмическое и программное обеспечение контроля технического состояния электромеханических и электронных силовых устройств с общей сетью питания [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / А. А. Зобенко. - СПб., 2005. - 17 с. : ил. - Библиогр.: с. 17(10 назв.)
Экземпляры всего 1: ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|